Calibration of Imaging Plates for Detecting Charged Particles

A. O. Khurchiev; Хурчиев А. О.; V. A. Panyushkin; Панюшкин В. А.; A. V. Skoblyakov; Скобляков А. В.; A. V. Kantsyrev; Канцырев А. В.; A. A. Golubev; Голубев А. А.; R. O. Gavrilin; Гаврилин Р. О.; A. V. Bogdanov; Богданов А. В.; E. M. Ladygina; Ладыгина Е. М.; S. A. Vysotskii; Высоцкий С. А.

doi:10.31857/S0032816223050294

Калибровка детекторных пленок Imaging Plates для регистрации заряженных частиц

Авторы: Хурчиев А.О.¹, Панюшкин В.А.¹, Скобляков А.В.¹, Канцырев А.В.¹, Голубев А.А.¹, Гаврилин Р.О.¹, Богданов А.В.¹, Ладыгина Е.М.¹, Высоцкий С.А.¹
Учреждения:
1. Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Выпуск: № 6 (2023)
Страницы: 46-55
Раздел: ОБЩАЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА
URL: https://journal-vniispk.ru/0032-8162/article/view/233260
DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816223050294
EDN: https://elibrary.ru/LGGDJN
ID: 233260

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

Информация об эмитируемых заряженных частицах плазмой сильноточных разрядов представляет интерес как с точки зрения понимания фундаментальных процессов, происходящих в импульсной плазме, так и для прикладных задач. Компактные магнитные спектрометры на основе постоянных магнитов позволяют проводить измерения потока заряженных частиц от плазмы в условиях сильных электромагнитных наводок. Пленочные детекторы Imaging Plate (IP) являются одними из наиболее часто используемых типов детекторов для регистрации заряженных частиц в лазерно-плазменных и электроразрядных экспериментах. В данной работе представлены результаты калибровки пленки IP BAS-MS при регистрации электронов и пленки IP BAS-TR при регистрации ионов гелия и вольфрама. Получены калибровочные зависимости чувствительности пленки BAS-MS для электронов в диапазоне энергий 0.65–50 МэВ и чувствительности пленки BAS-TR для ионов вольфрама в диапазоне энергий от 20 эВ до 650 кэВ с учетом углов падения частиц на детектор.

Список литературы

Miyahara J., Takahashi K., Amemiya Y., Kamiya N., Satow Y. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1986. V. 246. P. 572. https://doi.org/10.1016/0168-9002(86)90156-7
Amemiya Y., Miyahara J. // Nature. 1988. V. 336. P. 89. https://doi.org/10.1038/336089a0
Tanaka K.A., Yabuuchi T., Sato T., Kodama R., Kitagawa Y., Takahashi T., Ikeda T., Honda Y., Okuda S. // Rev. Sci. Instrum. 2005. V. 76. P. 013507. https://doi.org/10.1063/1.1824371
Boutoux G., Rabhi N., Batani D., Binet A., Ducret J.E., Jakubowska K., Nègre J.P., Reverdin C., Thfoin I. // Rev. Sci. Instrum. 2015. V. 86. P. 113304. https://doi.org/10.1063/1.4936141
Singh S., Slavicek T., Hodak R., Versaci R., Pridal P., Kumar D. // Rev. Sci. Instrum. 2017. V. 88. P. 075105. https://doi.org/10.1063/1.4993921
Bonnet T., Comet M., Denis-Petit D., Gobet F., Hannachi F., Tarisien M., Versteegen M., Aléonard M. // Rev. Sci. Instrum. 2013. V. 84. P. 103510. https://doi.org/10.1063/1.4826084
Bonnet T., Comet M., Denis-Petit D., Gobet F., Hannachi F., Tarisien M., Versteegen M., Aléonard M. // Rev. Sci. Instrum. 2013. V. 84. P. 013508. https://doi.org/10.1063/1.4775719
Freeman C.G., Fiksel G., Stoeckl C., Sinenian N., Canfield M.J., Graeper G.B., Lombardo A.T., Stillman C.R., Padalino S.J., Mileham C., Sangster T.C., Frenje J.A. // Rev. Sci. Instrum. 2011. V. 82. P. 073301. https://doi.org/10.1063/1.3606446
Doria D., Kar S., Ahmed H., Alejo A., Fernandez J., Cerchez M., Gray R.J., Hanton F., MacLellan D.A., McKenna P., Najmudin Z., Neely D., Romagnani L., Ruiz J.A., Sarri G., Scullion C., Streeter M., Swantusch M., Willi O., Zepf M., Borghesi M. // Rev. Sci. Instrum. 2015. V. 86. P. 123302. https://doi.org/10.1063/1.4935582
Kojima S., Miyatake T., Inoue S., Dinh T.H., Hasegawa N., Mori M., Sakaki H., Nishiuchi M., Dover N.P., Yamamoto Y., Sasaki T., Ito F., Kondo K., Yamanaka T., Hashida M., Sakabe S., Nishikino M., Kondo K. // Rev. Sci. Instrum. 2021. V. 92. P. 033306. https://doi.org/10.1063/5.0035618
Won J., Song J., Palaniyappan S., Gautier D.C., Jeong W., Fernández J.C., Bang W. // Appl. Sci. 2021. V. 11. P. 820. https://doi.org/10.3390/app11020820
Strehlow J., Forestier-Colleoni P., McGuffey C., Bailly-Grandvaux M., Daykin T.S., McCary E., Peebles J., Revet G., Zhang S., Ditmire T., Donovan M., Dyer G., Fuchs J., Gaul E.W., Higginson D.P. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2019. V. 90. P. 083302. https://doi.org/10.1063/1.5109783
Nishiuchi M., Sakaki H., Dover N.P., Miyahara T., Shiokawa K., Manabe S., Miyatake T., Kondo Ko., Kondo Ke., Iwata Y., Watanabe Y., Kondo Ki. // Rev. Sci. Instrum. 2020. V. 91.P. 093305. https://doi.org/10.1063/5.0016515
Zeil K., Kraft S.D., Jochmann A., Kroll F., Jahr W., Schramm U., Karsch L., Pawelke J., Hidding B., Pretzler G. // Rev. Sci. Instrum. 2010. V. 81. P. 013307. https://doi.org/10.1063/1.3284524
Ingenito F., Andreoli P., Batani D., Boutoux G., Cipriani M., Consoli F., Cristofari G., Curcio A., De Angelis R., Di Giorgio G., Ducret J., Forestier-Colleoni P., Hulin S., Jakubowska K., Rabhi N. // JINST. 2016. V. 11(5). P. C05012. https://doi.org/10.1088/1748-0221/11/05/C05012
https://www.duerrdental.com/en/products/imaging/intraoral-diagnostics/vistascan-mini-view/
Nave G., Sansonetti C.J., Szabo C.I., Curry J.J., Smil-lie D.G. // Rev. Sci. Instrum. 2011. V. 82. P. 013107. https://doi.org/10.1063/1.3529879
Lelasseux V., Fuchs J. // JINST. 2020. V. 15. P. 004002. https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/04/P04002
http://www.srim.org/
http://geant4-userdoc.web.cern.ch/geant4-userdoc/UsersGuides/ForApplicationDeveloper/fo/BookForApplicationDevelopers.pdf
Chen H., Back N.L., Bartal T., Beg F.N., Eder D.C., link A. J., MacPhee A.G., Ping Y., Song P.M., Throop A., Van Woerkom L. // Rev. Sci. Instrum. 2008. V. 79. P. 033301. https://doi.org/10.1063/1.2885045