电邮这篇文章 Application of tracing tools for analysis of microcontroller failures arising under the 14 MeV neutrons exposure
- 作者: Pilipenko A.S.1, Tikhonov M.I.1
-
隶属关系:
- Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
- 期: 卷 69, 编号 2 (2024)
- 页面: 199-204
- 栏目: ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ
- URL: https://journal-vniispk.ru/0033-8494/article/view/265598
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0033849424020117
- EDN: https://elibrary.ru/KMELDA
- ID: 265598
如何引用文章
开放存取
##reader.subscriptionAccessGranted##
详细
The trace support tools capabilities for a microcontroller (МС) with a Cortex-M3 core are analyzed to investigation of failures arising under the 14 MeV neutrons exposure. It has been shown that in most cases, MC hang is caused by the microcontroller going into a handling an inactive exception infinite loop. The cross-section values for the single event functional interrupt and the single event latch-up are estimated.
全文:
作者简介
A. Pilipenko
Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
编辑信件的主要联系方式.
Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
俄罗斯联邦, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770
M. Tikhonov
Fеdеrаl State Unitary Enterprise “Russian Federal Nuclear Center – Zababakhin All-Russia Research Institute of Technical Physics”
Email: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
俄罗斯联邦, Snezhinsk, Chelyabinsk oblast, 456770
参考
- Peña-Fernandez M., Lindoso A., Entrena L., Garcia-Valderas M. // IEEE Trans. 2020. V. NS-67. № 1. P. 126.
- Пилипенко А. С. // РЭ. 2022. Т. 67. № 5. С. 514.
- РД 134-0175-2009. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Методы испытаний цифровых сверхбольших интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных высокоэнергетических протонов и тяжелых заряженных частиц космического пространства на ускорителях заряженных частиц. Нормативный документ по стандартизации РКТ. М.:“ЦНИИ Машиностроения”, 2009. №19720. 29 с.
- ARM DDI 0403D “ARMv7-M Architecture Reference Manual” / Cambridge: ARM Limited, 2010. 1020 р.
- Пилипенко А. С., Тихонов М. И. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 52.
- Протопопов Г. А., Казанцев Д. А. // Тр. 25-й Всерос. научн.-техн. конф. “Стойкость-2022”. Лыткарино. 7–8 июня 2022. М.: НИИП, 2022. С. 125.
- Irom F., Miyahira T. F. // Radiation Effects Data Workshop. 2005. P. 36.
- Irom F., Miyahira T. F. // IEEE Trans. 2005. V. NS-52. № 6. P. 2475.
- Weulersse C., Guibbaud N., Beltrando A.-L. et al.// IEEE Trans. 2017. V. NS-64. № 8. P. 2268.
补充文件
