Structural Features and Mutual Influence of the Layers in PZT–LNO–SiOx–Si and PZT–LNO–Si Compositions


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The phase composition and specific features of the microstructures of layers in the Pb(Zr0.52Ti0.48)O3–LaNiO3–Si and Pb(Zr0.52Ti0.48)O3–LaNiO3–SiOx–Si compositions grown by chemical vapor deposition from solutions have been investigated by high-resolution transmission electron microscopy, electron diffraction, and energy-dispersive analysis. The influence of the structure of the lower LaNiO3 electrode on the structure and properties of ferroelectric lead zirconate titanate films with a perovskite structure is studied. It is shown that the misoriented porous polycrystalline structure of the lower electrode leads to violation of the columnarity of perovskite grains. The electrical parameters are slightly deteriorated in comparison with a conventional platinum electrode. The structures of the thin films with a silicate sublayer under the LaNiO3 electrode and without it are compared.

Об авторах

O. Zhigalina

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,”
Russian Academy of Sciences; Bauman Moscow State Technical University

Автор, ответственный за переписку.
Email: zhigal@crys.ras.ru
Россия, Moscow, 119333; Moscow, 105005

A. Atanova

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,”
Russian Academy of Sciences

Email: zhigal@crys.ras.ru
Россия, Moscow, 119333

D. Khmelenin

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,”
Russian Academy of Sciences

Email: zhigal@crys.ras.ru
Россия, Moscow, 119333

N. Kotova

Russian Technological University “MIREA”

Email: zhigal@crys.ras.ru
Россия, Moscow, 119454

D. Seregin

Russian Technological University “MIREA”

Email: zhigal@crys.ras.ru
Россия, Moscow, 119454

K. Vorotilov

Russian Technological University “MIREA”

Email: zhigal@crys.ras.ru
Россия, Moscow, 119454

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).