Отправить статью по E-mail Анализ двухкомпонентных композиционных покрытий при производстве элементов электроники с использованием методов компьютерного зрения
- Авторы: Ненашев М.В.1, Рахманин О.С.1, Киященко В.В.1
-
Учреждения:
- Самарский государственный технический университет
- Выпуск: Том 28, № 1 (2024)
- Страницы: 186-198
- Раздел: Краткие сообщения
- URL: https://journal-vniispk.ru/1991-8615/article/view/311026
- DOI: https://doi.org/10.14498/vsgtu2068
- EDN: https://elibrary.ru/GGJQTI
- ID: 311026
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Представлен метод анализа двухкомпонентных композиционных покрытий при производстве элементов электроники, основанный на системе математически обоснованных алгоритмов обработки изображений. Метод позволяет определять удельную поверхность, общую площадь материала и границы контакта, обеспечивая высокую точность и стабильность результатов. Полученные результаты могут быть успешно внедрены в промышленные процессы для оценки качества материалов и контроля производства. В рамках работы создана информационно-измерительная система обработки изображений, минимизирующая накопление ошибок на каждом этапе и обеспечивающая высокую точность определения характеристик материалов. Представлены примеры успешного применения метода, подчеркивающие его эффективность и перспективы в различных областях, включая промышленное производство элементов электроники. Полученные результаты представляют собой основу для дальнейших исследований и усовершенствования методов анализа
композиционных материалов.
Полный текст
Открыть статью на сайте журналаОб авторах
Максим Владимирович Ненашев
Самарский государственный технический университет
Email: nenashev.mv@samgtu.ru
ORCID iD: 0000-0003-3918-5340
https://www.mathnet.ru/person38904
доктор технических наук, профессор; первый проректор-проректор по научной работе; ректорат
Россия, 443100, Самара, ул. Молодогвардейская, 244Олег Сергеевич Рахманин
Самарский государственный технический университет
Email: rakhmanin.os@samgtu.ru
ORCID iD: 0000-0001-7337-268X
https://www.mathnet.ru/person204974
кандидат технических наук, доцент; начальник лаборатории; лаб. цифровых двойников материалов и технологических процессов их обработки
Россия, 443100, Самара, ул. Молодогвардейская, 244Виктория Витальевна Киященко
Самарский государственный технический университет
Автор, ответственный за переписку.
Email: vv.kiyashchenko@gmail.com
ORCID iD: 0000-0001-9710-2860
https://www.mathnet.ru/person204975
аспирант; младший научный сотрудник; лаб. цифровых двойников материалов и технологических процессов их обработки
Россия, 443100, Самара, ул. Молодогвардейская, 244Список литературы
- Николаев В. М., Вертянов Д. В., Шишов А. М. [и др.] Обзор существующих технологий формирования микроэлектронных устройств на пластичных основаниях / Современные тенденции в научной деятельности: VII Международная научно-практическая конференция (Москва, 28 декабря 2015 г.). М.: Научный центр «Олимп», 2015. С. 981–989. EDN: VDXLQZ.
- Анисович А. Г. Особенности металлографического препарирования для анализа тонких слоев и покрытий // Литье и металлургия, 2020. №2. С. 59–62. EDN: MPCJQQ. DOI: https://doi.org/10.21122/1683-6065-2020-2-59-62.
- Лецковник А. В., Брылева О. В., Кабанков А. И., Семичева Л. Г. Методика подготовки микрошлифов для металлографического и микрорентгеноспектрального анализов металлополимерных соединений // Актуальные проблемы авиации и космонавтики, 2014. Т. 1, №10. С. 107–108. EDN: PFSCXB.
- Падалко В. С., Зрюмова А. Г., Каредин И. С., Искуснова Н. В. Разработка композитного материала для создания гибких тензометрических датчиков // Ползуновский альманах, 2021. №4. С. 144–145. EDN: RHUGSU.
- Новиков А., Новоттник М. Теплоотводное покрытие из композитного материала для высокотемпературной электроники // Технологии в электронной промышленности, 2017. №4(96). С. 48–51. EDN: ZCMRHL.
- Терешенок А., Потапов С. Новые композитные материалы для терморегуляции мощной электроник // Электроника: Наука, технология, бизнес, 2022. №8(219). С. 62–67. EDN: KMUDKQ. DOI: https://doi.org/10.22184/1992-4178.2022.219.8.62.66.
- Терехова Ю. С., Киселев Д. А., Солнышкин А. В. Исследование сегнетоэлектрических нанокомпозитов на основе P(VDF-TrFE) методами сканирующей зондовой микроскопии // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 2021. Т. 24, №2. С. 71–78. EDN: TGQRRK. DOI: https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-2-71-78.
- Хмыль А. А., Ланин В. Л., Емельянов В. А. Гальванические покрытия в изделиях электроники. Минск: Интегралполиграф, 2017. 480 с. EDN: CHSIYS.
- Мустафаев Г. А., Мустафаева Д. Г., Мустафаев М. Г. Получение однородных по структуре и равномерных по толщине диэлектрических покрытий при формировании приборных структур // Нано- и микросистемная техника, 2017. Т. 19, №3. С. 131–136. EDN: YHXAKZ. DOI: https://doi.org/10.17587/nmst.19.131-136.
- Gonzalez R. C., Woods R. E. Digital Image Processing. New York: Pearson Education, 2018. 1019 pp.
Дополнительные файлы
