An Interferometric Method of Measuring Reflection Coefficients


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

A method for determining the reflection coefficients of optical elements, which is based on the use of a reflection interferometer, is proposed. The results of measurements with a He–Ne laser for several samples with different reflectivity levels are presented. Comparison with results of conventional measurements is made. The gain from the use of the reflection interferometer is estimated.

Об авторах

A. Kovalyov

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Автор, ответственный за переписку.
Email: kovalev@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).