Предложен способ отделения основы пробы диоксида теллура ТеО2, основанный на реакционной отгонке в проточном реакторе, в виде тетрахлорида теллура при 240°С; хлорирующий агент – газообразный хлор. Изучено поведение 59 примесей, установлено, что As, Au, B, Bi, Cu, Ga, In, Mo, Nb, Pb, Re, Ru, Sb, Se, Sn, Ta, Ti, V, W и Zn теряются полностью или частично; Ag, Al, Ba, Be, Са, Cd, Ce, Co, Cr, Dy, Er, Eu, Gd, Ir, Hf, Ho, К, La, Li, Lu, Mg, Mn, Nа, Nd, Ni, Р, Pd, Pr, Pt, Rb, Rh, Sc, Sm, Sr, Tb, Tm, Y, Yb и Zr сохраняется в концентрате более чем на 75 %. Содержание примесей в концентратах определяли методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Правильность подтверждена способом введено–найдено и сопоставлением с результатами анализа без концентрирования. Пределы обнаружения лежат в интервале от 2 × 10–8 до 8 × 10–6 мас.%, внутрилабораторная прецизионность не превышает 31 %.