ESTIMATION OF FLUCTUATIONS OF ALUMINUM ELECTRODE POTENTIAL IN CHLORIDE-CONTAINING AT ANODIC POLARIZATION BY MICROCURRENTS

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

The structure of integral curves obtained by processing chronopotentiograms (CPG) of an aluminum anode polarized by a weak (at the level of one to several μA/cm2) current in chloride-containing medium is self-similar. This universal property allows us to find their fitting function and calculate the reduced (compressed dependence; the initial number of points is 1000, described by the number of AFC-14 modes). The initial curve is invariant with respect to its transformed counterpart after five-fold compression. For two different types of data, obtained with open circuit and with metal polarization by microcurrent, a common fitting platform related to its parameters can be obtained. There are various methods of detrending: i. e., obtaining a trend from the original trendless noise. The simplest method of obtaining a trend that does not give computational errors is obtained from a numerical integration formula using the trapezoidal method. It is this trend, obtained from the original trendless sequence without additional data processing errors, that it makes sense to define as a clear trend. The approximation parameters can be used to compare various random processes, including those caused by reactions on the metal surface with changes in its microrelief during redox processes.

About the authors

R. R. Nigmatullin

Kazan National Research Technical named after A. N. Tupolev

Email: renigmat@gmail.com
420015, Kazan, Russia

A. F. Dresvyannikov

Kazan National Research Technological University

Email: a.dresvyannikov@mail.ru
420015, Kazan, Russia

References

  1. Nişancioğlu K., Holtan H. // Electrochim. Acta. 1979. № 24. P. 1229
  2. Hurlen T., Lian H., Ødegard O.S., Valant T. // Electrochim. Acta. 1984. № 29. P. 579
  3. Lenderink H.J.W., van der Linden M., de Wit J.H.W. // Electrochim. Acta. 1993. № 38. P. 1989
  4. Kolics A., Besing A.S, Baradlai P., et al. // J. Electrochem. Soc. 2001. № 148. P. B251.
  5. Verpoort F., Haemers T., Roose P., Maes J.P. // Appl. Spectr. 1999. № 53. P. 1528.
  6. Al Mayouf A.M. // Corr. Prev. Control. 1996. 43. P. 68.
  7. Radošević J., Kliškić M., Despić A.R. // J. Appl. Electrochem. 1992. № 22. P. 649.
  8. Garrigues L., Pebere N., Dabosi F. // Electrochim. Acta. 1996. № 41. P. 1209.
  9. Burri G., Luedi W., Haas O. // J. Electrochem. Soc. 1989. № 136. P. 267.
  10. Equey J.-F., Müller S., Desilvestro J., Haas O. // Ibid. Soc. 1992. № 139. P. 1499.
  11. Breslin C.B., Rudd A.L. // Corros. Sci. 2000. № 42. P. 1023.
  12. Aballe A., Bethencourt M., Botana F.J., Marcos M. // Electrochim. Acta. 1999. № 44. P. 4805.
  13. Pagitsas M., Sazou D. // J. Electroanal. Chem. 1999. № 471. P. 132.
  14. Uruchurtu J.C., Dawson J.L. // Corrosion. 1987. № 43. P. 19.
  15. Isaac J.W., K.R. Hebert J. // Electrochem. Soc. 1999. № 146. P. 502.
  16. Mansfeld F., Xiao H., Han L.T., Lee C.C. // Prog. Org. Coat. 1997. № 30. P. 89.
  17. Mansfeld F., Lee C.C. // J. Electrochem. Soc. 1997. № 144. P. 2068.
  18. Greisiger H., Schauer T. // Prog. Org. Coat. 2000. № 39. P. 31.
  19. Mills D.J., Mabbutt S. // Ibid. 2000. № 39. P. 41.
  20. Nagiub A., Mansfeld F. // Corros. Sci. 2001. № 43. P. 2001.
  21. Tan Y.J., Bailey S., Kinsella B. // Ibid. 2002. № 44. P. 1277.
  22. Aballe A., Bethencourt M., Botana F.J., et al. // Electrochim. Acta. 2002. № 47. P. 1415.
  23. Mansfeld F., Sun Z., Hsu C.H. // Ibid. 2001. № 46. P. 3651.
  24. Smulko J., Darowicki K., Zieliński A. // Ibid. 2002. № 47. P. 1297.
  25. Bierwagen G.P. //J. Electrochem. Soc. 1994. № 141. P. L155
  26. Bertocci U., Gabrielli C., Huet F., Keddam M. // Ibid. 1997. № 144. P. 31.
  27. Mansfeld F., Xiao H. // Ibid. 1994. № 141. P. 1403.
  28. Xiao H., Mansfeld F. // Ibid. 1994. № 141. P. 2332.
  29. Mansfeld F., Sun Z., Hsu C.H., Nagub A. // Corros. Sci. 2001. № 43. P. 341.
  30. Cheng Y.F., Luo J.L., Wilmott M. // Electrochim. Acta. 2000. № 45. P. 1763.
  31. Bautista A., Bertocci U., Huet F. // J. Electrochem. Soc. 2001. № 148. P. B412.
  32. Lowe A.M., Eren H., Bailey S.I. // Corros. Sci. 2003. № 45. P. 941.
  33. Cottis R.A., Al-Awadhi M.A.A., Al-Mazeedi H., Turgoose S. // Electrochim. Acta. 2001. № 46. P. 3665.
  34. Smulko J., Darowicki K. // J. Electroanal. Chem. 2003. № 545. P. 59.
  35. Aballe A., Huet F. // J. Electrochem. Soc. 2002. № 149. P. B89.
  36. Cottis R.A. Interpretation of electrochemical noise data // Corrosion. 2001. 57. P. 265.
  37. Mansfeld F. // Proceedings of the 18th Int. Conference on Noise and Fluctuations-ICNF; 2005 Aug 24; Los Angeles, CA (USA): American Institute of Physics; 2005. P. 623.
  38. Pride S.T, Scully J.R, Hudson J.L. // J. Electrochem Soc. 1994. № 141. P. 3028.
  39. Lou W, Ogura K. // Electrochim. Acta. 1995. № 40. P. 667.
  40. Sazou D., Diamantopoulou A., Pagitsas M. // J. Electroanal Chem. 2000. № 489. P. 1.
  41. Bassett M.R, Hudson J.L. // J. Phys. Chem. 1989. № 93. P. 2731.
  42. Dewald H.D., Parmananda P., Rollins R.W. // J. Electrochem Soc. 1993. № 140. P. 1969.
  43. Press W.H., Flannery B.P., Teukolsky S.A. et al. // Cambridge (UK). V. 1. Cambridge University Press, 1992. 963 p.
  44. Schauer T., Greisiger H., Dulog L. // Electrochim Acta. 1998. № 43. P. 2423.
  45. Burg J.P. Modern Spectrum Analysis. / Ed by D.G. Childers. New York (NY): IEEE Press, 1978. 334 p.
  46. Pujar M.G., Anita T., Shaikh H., et al. // Int. J. Electrochem. Sci. 2007. № 2. P. 301.
  47. Bertocci U., Frydman J., Gabrielli C., et al. // J. Electrochem. Soc. 1998. № 145. P. 2780.
  48. Van den Bos A. // IEEE Trans. Inform. Theory. 1997. № 17. P. 493.
  49. Edward J.A., Fitelson M.M. // IEEE Trans. Inform. Theory. 1973. № 19. P. 232.
  50. Nigmatullin Raoul R., Yang Quan Chen // Mathematics. 2023. № 11. P. 278.
  51. Nigmatullin R.R., Lino P., Maione G. // New Digital Signal Processing Methods Applications to Measurement and Diagnostics. ISBN978-3-030-45359-6 (eBook). https://doi.org/10.1007/978-3-030-45359-6. Springer, 2020.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2025 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».