Growth and electron transport characteristics of epitaxial thin strontium iridate films

Capa

Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Somente assinantes

Resumo

The results of a study of epitaxial thin films of strontium iridate with the compositions Sr2IrO4 and SrIrO3 obtained by laser ablation and direct current cathode sputtering, respectively, are presented. Data on the growth technology, crystal structure, electrophysical parameters are given, and the activation energy for low-defect dielectric Sr2IrO4 films is calculated.

Sobre autores

I. Moskal

Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of the Russian Academy of Sciences; MIREA – Russian Technological University

Autor responsável pela correspondência
Email: ivan.moscal@yandex.ru
Russia, 125009, Moscow; Russia, 107996, Moscow

K. Nagornykh

Moscow Institute of Physics and Technology

Email: ivan.moscal@yandex.ru
Russia, 141701, Dolgoprudny

A. Petrzhik

Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of the Russian Academy of Sciences

Email: ivan.moscal@yandex.ru
Russia, 125009, Moscow

Yu. Kislinsky

Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of the Russian Academy of Sciences

Email: ivan.moscal@yandex.ru
Russia, 125009, Moscow

K. Konstantinyan

Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of the Russian Academy of Sciences

Email: ivan.moscal@yandex.ru
Russia, 125009, Moscow

A. Shadrin

Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of the Russian Academy of Sciences; Moscow Institute of Physics and Technology

Email: ivan.moscal@yandex.ru
Russia, 125009, Moscow; Russia, 141701, Dolgoprudny

G. Ovsyannikov

Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of the Russian Academy of Sciences

Email: ivan.moscal@yandex.ru
Russia, 125009, Moscow

Bibliografia

  1. Kazunori Nishio, Harold Y. Hwang // APL Mater. 2016. V. 4. Art. No. 036102.
  2. Gutierrez-Llorente A., Iglesias L., Rodr’ıguez-González B., Rivadulla F. // APL Mater. 2018. V. 6. Art. No. 091101.
  3. Petrzhik A.M., Constantinian K.Y., Ovsyannikov G.A. et al. // Phys. Rev. B. 2019. V. 100. Art. No. 024501.
  4. Petrzhik A.M., Constantinian K.Y., Ovsyannikov G.A. et al. // J. Surf. Invest. X-Ray Synchrotron Neutron Techn. 2020. V. 14. No. 3. P. 547.
  5. Bobkova I.V., Bobkov A.M. // Phys. Rev. 2017. V. 95. P. 184 512.
  6. Kislinskii Yu.V., Constantinian K.Y., Ovsyannikov G.A. et al. // Proc. V Int. Conf. FPS’15. (Moscow, 2015). P. 144.
  7. Yang J., Hao L., Nanney P. et al. // Appl. Phys. Lett. 2019. V. 114. Art. No. 182401.
  8. Li Z.Z., Schneegans O., Fruchter L. // arXiv: 1610.03722v1. 2016.
  9. Петржик А.М., Cristiani G., Логвенов Г. и др. // Письма в ЖТФ. 2017. Т. 43. № 12. С. 25; Petrzhik A.M., Cristiani G., Logvenov G. et al. // Tech. Phys. Lett. 2017. V. 43. No. 6. P. 554.
  10. Nittaya Keawprak, Rong Tu, Takashi Goto // J. Alloys Compounds. 2010. V. 491. P. 441.
  11. Zhang L., Liang Q., Xiong Y. et al. // Phys. Rev. B. 2015. V. 91. P. 035110.
  12. Bebenin N.G., Zainullina R.I., Chusheva N.S. et al. // Phys. Rev. B. 2004. V. 69. P. 104434.
  13. Шкловский Б.И., Эфрос А.Л. Электронные свойства легированных полупроводников. М.: Наука. Физматлит, 1979. 416 с.

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
2.

Baixar (289KB)
3.

Baixar (108KB)
4.

Baixar (72KB)

Declaração de direitos autorais © И.Е. Москаль, К.Е. Нагорных, А.М. Петржик, Ю.В. Кислинский, К.И. Константинян, А.В. Шадрин, Г.А. Овсянников, 2023

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».