Properties of percolation channels in planar memristive structures base on epitaxial films of oxide perovskite compounds YBa2Cu3O7 – δ and La1 – xSrxMnO3 – δ

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

The choice of base materials and the use of their functional properties in the development of the structure and elucidation of the mechanism of resistive switching has been analyzed. Mesoscopic heterostructures based on epitaxial oriented 〈001〉 films of high-temperature superconductor YBa2Cu3O7 – δ and doped manganite La1 – xSrxMnO3 – δ, were obtained, and the properties of percolation channels of structures based on these compounds were studied. The effects of “self-adapting electroforming” in microcontact heterostructures based on epitaxial films of manganite are observed. Numerical calculations using the critical electric field model have shown that “self-electroforming” occurs in strong electric fields and a gap structure is formed in the contact zone. This structure provides reproducibility of resistive switching.

About the authors

A. N. Rossolenko

Osipyan Institute of Solid-State Physics of the Russian Academy of Sciences

Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 142432, Chernogolovka

N. A. Tulina

Osipyan Institute of Solid-State Physics of the Russian Academy of Sciences

Author for correspondence.
Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 142432, Chernogolovka

I. M. Shmytko

Osipyan Institute of Solid-State Physics of the Russian Academy of Sciences

Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 142432, Chernogolovka

А. А. Ivanov

National Research Nuclear University Moscow Engineering Physics Institute (MEPhI)

Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 115409, Moscow

A. V. Zotov

Institute of Microelectronics Technology and High Purity Materials of the Russian Academy of Sciences

Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 142432, Chernogolovka

I. Y. Borisenko

Institute of Microelectronics Technology and High Purity Materials of the Russian Academy of Sciences

Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 142432, Chernogolovka

V. V. Sirotkin

Institute of Microelectronics Technology and High Purity Materials of the Russian Academy of Sciences

Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 142432, Chernogolovka

V. A. Tulin

Institute of Microelectronics Technology and High Purity Materials of the Russian Academy of Sciences

Email: tulina@issp.ac.ru
Russia, 142432, Chernogolovka

References

  1. Li Y., Wang Z., Midya R. et al. // J. Phys. D. 2018. V. 51. Art. No. 503002.
  2. Wang C., Wu H., Gao B., Zhang et al. // Microelectron. Engin. 2018. V. 187–188. P. 121.
  3. Perez-Tomas A. // Adv. Mater. Interfaces. 2019. V. 6. Art. No. 1970096.
  4. Tulina N.A., Ivanov A.A. // J. Supercond. Nov. Magn. 2020. V. 33. P. 2279.
  5. Тулина Н.А., Сироткин В.В., Борисенко И.Ю., Иванов А.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2013. Т. 77. № 3. С. 297; Tulina N.A., Sirotkin V.V., Borisenko I.Yu., Ivanov A.A. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2013. V. 77. No. 3. P. 265.
  6. Tulina N.A., Rossolenko A.N., Shmytko I.M. et al. // J. Supercond. Sci. Technol. 2019. V. 32. P. 5003.
  7. Тулина Н.А., Россоленко А.Н., Шмытько И.М. и др. // Наноиндустрия. 2019. Т. 89. С. 237.
  8. Tulina N.A., Borisenko I.Yu., Shmytko I.M. et al. // J. Supercond. Nov. Magn. 2020. V. 33. P. 3695.
  9. Pickett W. E., Singh D.J., Krakauer H., Cohen R.E. // Science. 1992. V. 255. No. 5040. P. 46.
  10. Dagotto E., Hotta N., Moreo A. // Phys. Reports. 2001. V. 344. P. 1.
  11. Байков Ю.М., Никулин Е.И., Мелех Б.Т., Егоров В.М. // ФТТ. 2004. Т. 46. № 11. С. 2018.
  12. Chaika A.N., Ionov A.M., Tulina N.A. et al. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2005. V. 148. P. 101.
  13. Yanson I.K. // Low Temp. Phys. 1983. V. 6. P. 676.
  14. Sano Y. // J. Appl. Phys. 1985. V. 58. P. 2651.
  15. Jorgensen J. // Phys. Rev. B. 1990. V. 41. P. 1863.
  16. Dagotto E. // Rev. Mod. Phys. 1994. V. 66. P. 763.
  17. Hudgins J. // J. Electron. Mater. 2003. V. 33. P. 471.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2.

Download (800KB)
3.

Download (39KB)
4.

Download (388KB)
5.

Download (956KB)

Copyright (c) 2023 А.Н. Россоленко, Н.А. Тулина, И.М. Шмытько, А.А. Иванов, А.В. Зотов, И.Ю. Борисенко, В.В. Сироткин, В.А. Тулин

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».