Nonlinear excitation of luminescence of wide-gap crystals by femtosecond laser emission
- Authors: Baryshnikov V.I.1, Goreva O.V.1, Kolesnikova T.А.1, Nikonovich O.L.1, Murzina Y.A.1
-
Affiliations:
- Irkutsk State Transport University
- Issue: Vol 88, No 7 (2024)
- Pages: 1011-1015
- Section: Luminescence and Laser Physics
- URL: https://journal-vniispk.ru/0367-6765/article/view/279436
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0367676524070029
- EDN: https://elibrary.ru/PCYPWF
- ID: 279436
Cite item
Full Text
Abstract
The features of nonlinear excitation of photoluminescence of wide-gap crystals by femtosecond laser emission have been studied. It has been established that during multiphoton ionization of the intrinsic substance of crystals, the excitation of intrinsic 2pO2– valence photoluminescence has a long-wave threshold. The photoluminescence yield of impurities, excited by the capture of induced band electrons and holes during the nonlinear ionization of a substance, reaches saturation with increasing intensity of femtosecond laser pulses.
Full Text
Введение
Интенсивное фемтосекундное лазерное облучение широкозонных особо чистых и номинальной чистоты кристаллов: H2O; Al2O3; SiO2; YAlO3; Y3Al5O12; Ti: BeAl2O4; MgSiO5 и др. сопровождается 2рО2– валентной фотолюминесценцией (ФЛ) собственного вещества [1, 2] и ФЛ примесных ионов металлов редкоземельной и переходной группы [3, 4]. Основой электронно-дырочных механизмов возбуждения указанной ФЛ является нелинейная ионизация собственного вещества при взаимодействии плотного фемтосекундного лазерного излучения с кристаллами [5—7]. Данный подход нелинейного фемтосекундного лазерного возбуждения ФЛ в широкозонных радиационно стойких кристаллах по уровню ионизации собственного вещества близок к воздействию сильноточных наносекундных электронных пучков [8]. Поэтому исследования особенностей нелинейного фемтосекундного лазерного возбуждения ФЛ указанной группы кристаллов, легированных ионами металлов редкоземельной и переходной группы, актуальны, как для разработки лазерных сред [9, 10] и элементов светодиодных излучателей [11, 12], так и кристаллических импульсных преобразователей рентгеновского изображения и сцинтилляторов [13].
Фемтосекундное лазерное возбуждение кристаллов позволяет выявить кинетику формирования возбужденных состояний собственных и примесных ионов и их короткоживущие зарядовые состояния [8]. Вместе с тем, для изучения фундаментальных особенностей нелинейного взаимодействия интенсивного фемтосекундного лазерного излучения с кристаллами необходимы исследования пороговых условий многофотонной ионизации собственного вещества, при которых возможно возбуждение собственной 2рО2– ФЛ. Кроме того, представляет значительный интерес возможность достижения ~ 100 % возбужденного состояния примесного состава в зависимости от частоты следования фемтосекундных импульсов и времени жизни ФЛ примесей.
Объекты, методы и техника эксперимента
В экспериментах использовали полированные монокристаллы (10×5×5 мм): особо чистые Al2O3 (примесей < 10–7 вес. %); номинальной чистоты (~ 10–5 вес. %) — Y3Al5O12; YAlO3. Для сравнения были измерены спектры ФЛ таких же по размерам монопримесных кристаллов Ce: YAlO3 (Ce3+ 0.1 вес. %) и Ce: Y3Al5O12 (Сe3+ 0.1 вес. %).
Собственную 2рО2– ФЛ и ФЛ примесей исследовали в режиме нелинейного возбуждения второй гармоникой фемтосекундного (50 фс) перестраиваемого (360—440 нм) Ti: Al2O3 лазера TIF-50. Спектральные и временные параметры фемтосекундных лазерных импульсов контролировали соответственно с помощью спектрометра ASP-100M и автокоррелятора на основе прецизионного интерферометра Майкельсона. Работой спектрометра и интерферометра управляли посредством специального программного обеспечения.
Прецизионная система юстировки широкополосного сферического зеркала и продольного перемещения исследуемого кристалла обеспечивала плавную регулировку интенсивности в кристалле лазерного фемтосекундного пучка, вплоть до области гауссовой перетяжки. Импульсная интенсивность лазерного излучения находилась в диапазоне значений 0.02—2.5 ГВт·см-2.
Фемтосекундные лазерные импульсы посредством юстировочной системы, направляли на торцевую поверхность кристалла под углом полного внутреннего отражения. С противоположной поверхности кристалла излучение фемтосекундного лазера прошедшее кристалл направляли через кварцевую призму на два p-i-n фотодиода (S1722-О1, Hamamatsu) с двухканальным осциллографом Tektronix TDS3032B. Синхронное измерение одноимпульсных спектров ФЛ выполняли под углом 90° к оси лазерного луча в кристалле. Одноимпульсные спектры регистрировали системой, состоящей из спектрографа МДР-4, стробируемого с наносекундным разрешением микроканальный электронно-оптический преобразователя (ЭОП), импульсной ПЗС-матрица с объективом и модуля микропроцессорного управления, контроля и передачей данных. ЭОП запускается через быстродействующий цифровой блок задержки с наносекундной точностью по фронту лазерного импульса. Выбор оптимальной чувствительности импульсной ЭОП-ПЗС-системы обеспечивался специальным программным обеспечением. Спектры стационарного оптического поглощения были измерены спектрометром PerkinElmer при 300 К.
Наносекундная фотопроводимость кристаллов при многофотонном возбуждении собственной 2рО2– ФЛ и ФЛ примесей измерена по методике, подробно изложенной в работе [8].
Результаты экспериментов и их обсуждение
В кристаллах номинальной чистоты Y3Al5O12 (Сe3+~ 10–5 вес. %), возбуждаемых излучением 2ω: Ti: Sp лазера (50 фс, 390 нм, 100 МВт·см−2) вне полосы поглощения ионов Сe3+ при экспозиции спектрографа 150 нс и синхронным наблюдением в каналах p-i-n фотодиодов установлено, что ФЛ УФ полосы (325—425 нм, λm = 370 нм) затухает при 300 К с τ < 1 нс, а в спектральном диапазоне излучения (480—675 нм, λm = 530 нм) наблюдается спектр ФЛ с τ = 125 нс (рис. 1). Согласно предварительным данным, полосу ФЛ при 530 нм с τ = 125 нс можно отнести к излучению ионов Се3+. Для проверки, в этих же условиях эксперимента, использован кристалл Ce: Y3Al5O12 легированный церием (Сe3+ 0.1 вес. %). В данном эксперименте наблюдается интенсивная полоса ФЛ Сe3+ с λm = 530 нм и τ = 125 нс. Полученный результат позволяет отнести данную полосу ФЛ к излучению ионов Се3+ (5d-4f электронные переходы).
Рис. 1. Спектрограмма (а) и одноимпульсный спектр ФЛ Ce3+ и валентной 2pO2– ФЛ в номинальной чистоты кристаллах Y3Al5O12 при 300 K (б). Возбуждение 2ω: Ti: Sp лазера: λ = 390 нм; 50 фс; 0.1 ГВт·см–2. Регистрация: задержка 5 нс, экспозиция 100 нс. Стационарный спектр оптического поглощения (в).
Ранее нами установлено, что при внутрицентровом возбуждении ионов Се3+ в кристаллах Y3Al5O12 время затухания ФЛ составляет 60 нс, а при последовательном захвате ионами Се3+ наведенных при ионизации собственного вещества зонных дырок (h) и электронов (е) возникает ФЛ с τ = 125—140 нс [14]. Таким образом, в номинально чистых кристаллах Y3Al5O12 возбуждение наблюдаемой ФЛ с полосой при 530 нм и τ = 125 нс происходит путем захвата наведенных зонных дырок и электронов в результате трехфотонной ионизации собственного вещества согласно неравенству 3hν = 9.5 эВ > Eg = 6.5 эВ, где Eg — ширина запрещенной зоны.
Как отмечено выше, в кристаллах номинальной чистоты Y3Al5O12 синхронно с полосой ФЛ при 530 нм зарегистрирована малоинерционная ФЛ в полосе при 370 нм (рис. 1) с τ < 1 нс (рис. 2). Данный вид люминесценции нельзя отнести к излучению примесных дефектов в кристалле Y3Al5O12, поскольку выход этой ФЛ и время затухания не зависят от температуры в диапазоне 78—900 К. Идентичные особенности малоинерционной 2рО2– ФЛ в полосе 390 нм с τ < 1 нс наблюдаются в ходе трехфотонного возбуждения излучением 4ω: Ti: Sp лазера (100 фс; 210 нм; 1.0 ГВт·см–2) при 78—900 К особо чистых кристаллов Al2O3 [1]. Сравнение полученных результатов указывает на принадлежность независящей от температуры малоинерционной (τ < 1) ФЛ в полосе при 370 нм к валентной 2рО2– ФЛ при возбуждении кристаллов Y3Al5O12 в режиме трех фотонной ионизации собственного вещества.
Рис. 2. Осциллограмма импульсов ФЛ номинальной чистоты кристаллов Y3Al5O12 при 300 K: валентной 2pO2– в полосе при 380 нм (1) и Ce3+ при 530 нм (2), возбуждаемой излучением 2ω: Ti: Sp лазера (400 нм; 50 фс; 80 МГц; 0.1 ГВт·см–2).
Распределение плотности состояний валентной зоны для оксидных соединений с решеткой класса NaCl имеет типичную структуру, состоящую из двух слегка перекрывающихся полос (подзон) [15, 16]. Энергетическое распределение плотности состояний 2рО2– валентной зоны кристалла Al2O3 согласуются со спектральными параметрами малоинерционной ФЛ, возбуждаемой фемтосекундными импульсами 2ω: Ti: Sp лазера (50 фс; 360 нм; 1.5 ГВт·см-2) в режиме четырехфотонной ионизации собственного вещества (рис. 3). Приведенный на рис. 3 нелинейный механизм возбуждения валентной 2рО2– ФЛ в особо чистом кристалле Al2O3 показывает, что должна быть длинноволновая граница нелинейного возбуждения 2рО2– валентной ФЛ. В эксперименте при сохранении исходной интенсивности 1.5 ГВт·см-2 зарегистрирован длинноволновый порог четырех фотонного возбуждения УФ валентной 2рО2– ФЛ равный 13.0 эВ (рис. 3). При измерении четырех фотонного спектра возбуждения в спектральном интервале 11.0—13.8 эВ регистрировали импульсный ток фотопроводимости. В кристаллах Y3Al5O12 и YAlO3 длинноволновый порог трехфотонного возбуждения УФ валентной 2рО2– ФЛ соответственно равен 9.5 эВ и 10.0 эВ.
Рис. 3. Спектрограмма (1) и спектр (2) валентной 2pO2– ФЛ особо чистого кристалла Al2O3 при четырехфотонном возбуждении излучением 2ω: Ti: Al2O3 лазера (50 фс; 360 нм; 1.5 ГВт·см–2). Регистрация: задержка 5 нс, экспозиция 10 нс. Спектр четырехфотонного возбуждения 2pO2– ФЛ (3). Слева структура валентной 2pO2– зоны и механизм нелинейного возбуждения 2pO2– валентной ФЛ.
Выход ФЛ валентной 2pO2– в кристаллах номинальной чистоты Y3Al5O12 и YAlO3 с увеличением интенсивности лазерного возбуждения растет с кубической закономерностью. При этом выход ФЛ примесных ионов Се3+ от кристалла к кристаллу имеет разный уровень насыщения (рис. 4). Это означает, что при частоте следования фемтосекундных лазерных возбуждающих импульсов (80 МГц), когда интервал между импульсами ~ 12 нс << τ = 125 нс ФЛ Се3+ в Y3Al5O12, основная доля ионов Се3+ находится в возбужденном состоянии, и рост ФЛ прекращается (рис. 3, 4).
Рис. 4. Зависимость выхода валентной 2pO2– ФЛ в Y3Al5O12 (1) и ФЛ Ce3+ в Y3Al5O12 (2), Се: YAlO3 (3) при 300 K от интенсивности возбуждения излучением 2ω: Ti: Sp лазера: λ = 360 нм, 50 фс. Кристаллы номинальной чистоты.
Таким образом, в номинальной чистоты широкозонных кислородсодержащих кристаллах под действием интенсивного излучения 2ω: Ti: Sp перестраиваемого лазера (50 фс, 360—440 нм, 50—500 МВт·см-2) возбуждение ФЛ примесного состава происходит путем последовательного захвата зонных электронов и дырок наведенных в процессе нелинейной ионизации собственного вещества согласно неравенству nhν > Eg, где hν — энергия фотонов в лазерном импульсе; n = 3, 4. При частоте следования (80 МГц) возбуждающих фемтосекундных лазерных импульсов, когда интервал между импульсами T << τа, где τа — время жизни примеси в возбужденном состоянии, с увеличением интенсивности облучения выход ФЛ примесного состава достигает насыщения. Тогда, как выход 2pO2– валентной ФЛ в указанных кристаллах с увеличением интенсивности фемтосекундного лазерного возбуждения растет с закономерностью nhν > Eg + Eb, где n = 3, 4; Eb — энергия длинноволнового порога возбуждения УФ валентной 2рО2– ФЛ.
About the authors
V. I. Baryshnikov
Irkutsk State Transport University
Author for correspondence.
Email: vibh@rambler.ru
Russian Federation, Irkutsk
O. V. Goreva
Irkutsk State Transport University
Email: vibh@rambler.ru
Russian Federation, Irkutsk
T. А. Kolesnikova
Irkutsk State Transport University
Email: vibh@rambler.ru
Russian Federation, Irkutsk
O. L. Nikonovich
Irkutsk State Transport University
Email: vibh@rambler.ru
Russian Federation, Irkutsk
Yu. A. Murzina
Irkutsk State Transport University
Email: vibh@rambler.ru
Russian Federation, Irkutsk
References
- Барышников В.И., Колесникова Т.А. // Опт. и спектроск. 2003. Т. 95. № 4. С. 637; Baryshnikov V.I., Kolesnikova T.A. // Opt. Spectrosc. 2003. V. 95. No. 4. P. 594.
- Барышников В.И., Колесникова Т.А., Дорохов С.В. // Неорг. матер. 1998. Т. 34. № 8. С. 990; Baryshnikov V.I., Kolesnikova T.A., Dorokhov S.V. // Inorg. Mater. 1998. V. 34. No. 8. P. 827.
- Чекалин С.В. // УФН. 2006. Т. 176. № 6. С. 657; Chekalin S.V. // Phys. Usp. 2006. V. 49. No. 6. P. 634.
- Барышников В.И., Суханова Ю.А., Колесникова Т.А., Никонович О.Л. // Изв. РАН. Сер. физ. 2022. Т. 86. № 7. С. 944; Baryshnikov V.I., Sukhanova Yu.A., Kolesnikova T.A., Nikonovich O.L. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2022. V. 86. No. 7. P. 787.
- Бондарев М.А., Иванов А.В., Перлин Е.Ю. // Опт. и спектроск. 2012. Т. 112. № 1. С. 109; Bondarev M.A., Ivanov A.V., Perlin E. Yu. // Opt. Spectrosc. 2012. V. 112. No. 1. P. 106.
- Барышников В.И., Колесникова Т.А. // ФТТ. 2005. Т. 47. № 10. C. 1776; Baryshnikov V.I., Kolesnikova T.A. // Phys. Solid State. 2005. V. 47. No. 10. P. 1847.
- Халяпин В.А., Бугай А.Н. // Изв. РАН. Сер. физ. 2022. Т. 86. № 1. С. 29; Khalyapin V.A., Bugay A.N. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2022. V. 86. No. 1. P. 13.
- Барышников В.И., Горева О.В., Григорьева Ю.А., Никонович О.Л. // Опт. и спектроск. 2019. Т. 126. № 3. С. 336; Baryshnikov V.I., Goreva O.V., Grigor'eva Y.A., Nikonovich O.L. // Opt. Spectrosc. 2019. V. 126. No. 3. P. 257.
- Семашко В.В. // ФТТ. 2005. Т. 47. № 8. С. 1450; Semashko V.V. // Phys. Solid State. 2005. V. 47. No. 8. P. 1507.
- Ахтямов О.Р., Низамутдинов А.С., Семашко В.В. и др. // Изв. вузов. Физика. 2013. Т. 56. № 2/2. С. 39.
- Ржанов А.Г. // Изв. РАН. Сер. физ. 2023. Т. 87. № 4. С. 588; Rzhanov A.G. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2023. V. 87. No. 4. P. 510.
- Chen Q., Li Z., Chen K. et al. // Opt. Express. 2016. V. 24. No. 15. P. 16695.
- Барышников В.И., Колесникова Т.А. Способ наносекундной микродозовой рентгеновской диагностики. Патент РФ № 2619852, кл. G01N23/04. 2017.
- Барышников В.И., Болондзь А.В. // Изв. вузов. Физика. 2011. Т. 54. № 2/2. С. 53.
- Pantelides S.T. // Phys. Rev. B. 1975. V. 11. No. 12. P. 5082.
- Барышников В.И., Щепина Л.И., Колесникова Т.А., Мартынович Е.Ф. // ФТТ. 1990. Т. 32. № 6. С. 1888; Baryshnikov V.I., Shchepina L.I., Kolesnikova T.A., Martynovich E.F. // Sov. Phys. Solid State. 1990. V. 32. No. 6. P. 1103.
Supplementary files
