Металлодиэлектрические зеркальные покрытия для квантовых каскадных лазеров с длиной волны излучения 4 – 5 мкм

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Представлены результаты сравнения металлодиэлектрических зеркальных покрытий для квантовых каскадных лазеров (ККЛ) среднего ИК диапазона. Изготовлены образцы ККЛ с оптическими покрытиями Al2O3 – Ti – Au и SiO2 – Ti – Au и изучены их характеристики. Показано, что использование металлодиэлектрических зеркальных покрытий позволяет увеличиnь выходную оптическую мощность приборов до 93 % и снизить их пороговые токи в 1.25 раза.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

К. А. Подгаецкий

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Автор, ответственный за переписку.
Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. В. Лобинцов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. И. Данилов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. В. Иванов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

М. А. Ладугин

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. А. Мармалюк

АО «НИИ «Полюс» им. М.Ф.Стельмаха»; Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»; Российский университет дружбы народов

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342; Москва, Каширское ш., 31, 115409; Москва, ул. Миклухо-Маклая, 6, 117198

Е. В. Кузнецов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

В. В. Дюделев

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Д. А. Михайлов

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Д. В. Чистяков

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

А. В. Бабичев

ООО «Коннектор Оптикс»; Санкт-Петербургский национальный университет информационных технологий, механики и оптики;

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, Кронверкский просп., 49, 197101

Е. А. Когновицкая

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

А. В. Лютецкий

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

С. О. Слипченко

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Н. А. Пихтин

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

А. Г. Гладышев

ООО «Коннектор Оптикс»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292

И. И. Новиков

ООО «Коннектор Оптикс»; Санкт-Петербургский национальный университет информационных технологий, механики и оптики

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, Кронверкский просп., 49, 197101

Л. Я. Карачинский

ООО «Коннектор Оптикс»; ; Санкт-Петербургский национальный университет информационных технологий, механики и оптики

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, Кронверкский просп., 49, 197101

А. Ю. Егоров

ООО «Коннектор Оптикс»; Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет им. Ж.И.Алфёрова РАН

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, ул. Хлопина, 8, корп. 3, литер А, 194021

Г. С. Соколовский

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Россия, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Список литературы

  1. Isensee K., Kröger-Lui N., Petrich W. Analyst., 143, 5888 (2018).
  2. Rakiс' A.D., Taimre T., Lim Y.L., et al. Appl. Phys. Rev., 6, 021320 (2019).
  3. Абрамов П.И., Бударин А.С., Кузнецов Е.В., Скворцов Л.А. ЖПС, 87, 515 (2020) [J. Appl. Spectrosc., 87, 515 (2020)].
  4. Yang Q., Manz C., Bronner Q., et al. Appl. Phys. Lett., 90, 121134 (2007).
  5. Bandyopadhyay N., Bai Y., Tsao S., et al. Appl. Phys. Lett., 101, 241110 (2012).
  6. Ulbrich N., Scarpa G., Sigl A., Roßkopf J., Bohm G., Abstreiter G., Amann M.C. Electron. Lett., 37, 1341 (2001).
  7. Scarpa G., Ulbrich N., RoOkopf J., Sigl A., Bohm G., Abstreiter G., Amann M.-C. IEE Proc.: Optoelectron., 149, 201 (2002).
  8. Gmachl C., Sergent A.M., Tredicucci A., Capasso F., et al. IEEE Photonics Technol. Lett., 11, 1369 (1999).
  9. Farmer C.D., Stanley C.R., Ironside C.N., Garcia M. Electron. Lett., 38, 1443 (2002).
  10. Page H., Collot P., Rossi A., Ortiz V., Sirtori C. Semicond. Sci. Technol., 17, 1312 (2002).
  11. Slivken S., Yu J.S., Evans A., David J., Doris L., Razeghi M. IEEE Photonics Technol. Lett., 16, 744 (2004).
  12. Matsuoka Y., Semtsiv M.P., Peters S., Masselink W.T. Opt. Lett., 43, 4723 (2018).
  13. Schmitt P., Felde N., Döhring T., et al. Opt. Mater. Express, 12, 545 (2022).
  14. Бабичев А.В., Гладышев А.Г., Дюделев В.В. и др. Письма в ЖТФ, 46, 35 (2020) [Tech. Phys. Lett., 46, 442 (2020)].
  15. Дюделев В.В., Михайлов Д.А., Бабичев А.В. и др. Квантовая электроника, 50, 720 (2020) [Quantum Electron., 50, 720 (2020)].
  16. Furman Sh.A., Tikhonravov A.V. Basics of Optics of Multilayer Systems (Gif-sur-Yvette, France: Editions Frontieres, 1992).
  17. Yu J.S., Slivken S., Evans A., Razeghi M. Appl. Phys. A, 93, 405 (2008).

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать
2. Рис.1. Расчетные зависимости коэффициента отражения металлодиэлектрического зеркала с фиксированными толщинами подслоев титана и золота от толщины диэлектрического слоя на длине волны 4.5 мкм.

Скачать (93KB)
Метаданные
3. Рис.2. Расчетные зависимости коэффициента отражения металлодиэлектрического зеркала с фиксированной толщиной слоев титана и диэлектрика (200 нм) от толщины слоя золота на длине волны 4.5 мкм.

Скачать (62KB)
Метаданные
4. Рис.3. Расчетные зависимости коэффициента отражения металлодиэлектрического зеркала с фиксированной толщиной диэлектрика (200 нм) при вариации суммарной толщины металлических покрытий.

Скачать (90KB)
Метаданные
5. Рис.4. Ватт-амперные характеристики ККЛ без оптического покрытия и с нанесенным зеркальным покрытием SiO2 – Ti – Au (а) и Al2O3 – Ti – Au (б).

Скачать (110KB)
Метаданные

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».