Ul'trakorotkie impul'sy v strukturnom analize almaznykh sloev s NV-tsentrami

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

Рентгеноструктурный анализ является одним из основных методов определения строения кристаллических структур с использованием как непрерывного рентгеновского излучения, так и ультракоротких импульсов. Обычно ультракороткие импульсы применяются для наблюдения динамических процессов в атомных и молекулярных системах. В данной работе показано, что у ультракоротких импульсов может быть еще одно важное применение – это определение межплоскостного расстояния в слоях алмаза с NV-центрами, расстояние между которыми может составлять всего несколько ангстрем. Полученные результаты имеют хорошую перспективу расширения на более сложные структуры и как итог развития – это новый метод 3D томографии с ангстремным разрешением.

References

  1. N. Jones, Nature 505(7485), 602 (2014).
  2. A. Benediktovich, I. Feranchuk, and A. Ulyanenkov, Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis, Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg (2014).
  3. M.K. Eseev, V. I. Matveev, and D.N. Makarov, JETP Lett. 114, 387 2021.
  4. C. Suryanarayana and M. Grant Norton, X–Ray Diffraction: A Practical Approach, Springer Science + Business Media, N.Y. (1998).
  5. F. Canova Luca Poletto, Optical Technologies for Extreme-Ultraviolet and Soft X-ray Coherent Sources, Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg (2015).
  6. U. Pietsch, V. Holy, and Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering, Springer Science + Business Media, N.Y. (2004).
  7. N.W. Ashcroft, Mermin ND, Solid State Physics, Saunders College, N.Y. (1979).
  8. R.W. James, The Optical Principles of the Diffraction of X-rays (Ox Bow), Woodbridge, Connecticut (1982).
  9. G. Dixit, O. Vendrell, and R. Santra, PNAS 109(29), 11636 (2012).
  10. N.E. Henriksen and K.B. Moller, J. Phys. Chem. B 112, 558 (2008).
  11. V.A. Astapenko and E.V. Sakhno, Appl. Phys. B 126, 23 (2020).
  12. F.B. Rosmej, V.A. Astapenko, V. S. Lisitsa, X.D. Li, and E. S. Khramov, Contrib. Plasma Phys. 59, 189 (2019).
  13. V.A. Astapenko, Physics Letters, Section A: General, Atomic and Solid State Physics 483, 129050 (2023).
  14. V.A. Astapenko, N.N. Moroz, and M. I. Mutafyan, JETP Lett. 108(3), 165 (2018).
  15. D.N. Makarov, Opt. Express 27(22), 31989 (2019) .
  16. M. Eseev, K. Makarova, and D. Makarov, Crystals 12, 1417 (2022).
  17. K.B. Moller and N.E. Henriksen, Struc. Bond. 142, 185 (2012).
  18. S. Tanaka, V. Chernyak, and S. Mukamel, Phys. Rev. A 63, 63405 (2001).
  19. G. Dixit, J.M. Slowik, and R. Santra, Phys. Rev. Lett. 110, 137403 (2013).
  20. P.M. Kraus, M. Zurch, S.K. Cushing, D.M. Neumark, and S.R. Leone, Nat. Rev. Chem. 2, 82 (2018).
  21. P. Peng, C. Marceau, and D.M. Villeneuve, Nat. Rev. Phys. 1, 144 (2019).
  22. F. Krausz and M. Ivanov, Rev. Mod. Phys. 81, 163 (2009).
  23. F. Calegari, G. Sansone, S. Stagira, C. Vozzi, and M. Nisoli, J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 49, 062001 (2016).
  24. R. Schoenlein, T. Elsaesser, K. Holldack, Z. Huang, H. Kapteyn, M. Murnane, and M. Woerner, Philos. Trans. R. Soc. A 377, 20180384 (2019).
  25. J. Duris, S. Li, T. Driver et al. (Collaboration), Nat. Photonics 14, 30 (2020).
  26. D.N. Makarov, M.K. Eseev, and K.A. Makarova, Opt. Lett. 44(12), 3042 (2019).
  27. D.N. Makarov, K.A. Makarova, and A.A. Kharlamova, Sci. Rep. 12, 1 (2022).
  28. D. Makarov and A. Kharlamova, Int. J. Mol. Sci. 24, 15574 (2023).
  29. J. Barry, J. Schloss, E. Bauch, M. Turner, C. Hart, L. Pham, and R. Walsworth, Rev. Mod. Phys. 92, 015004 (2020).
  30. M. Mrozek, M. Schabikowski, M. Mitura-Nowak, J. Lekki, M. Marsza, A. Wojciechowski, and W. Gawlik, Materials 14, 833 (2021).
  31. V. Popov, S. Podlesny, I. Kartashov, I. Kupriyanov, and Y. Palyanov, Diam. Relat. Mater. 120, 108675 (2021).
  32. A. Takeuchi, K. Uesugi, H. Takano, and Y. Suzuki, Rev. Sci. Instrum. 73, 4246 (2002).
  33. A. Tkachuk, F. Duewer, H. Cui, M. Feser, S. Wang, and W. Yun, Z. Kristallogr. 222, 650 (2007).
  34. P. J. Withers, Mater. Today 10(12), 26 (2007).
  35. M. Du, Y. S.G. Nashed, S. Kandel, D. Gursoy, and Ch. Jacobsen, Sci. Adv. 6(13), eaay3700 (2020).
  36. F. Salvat, J.D. Martnez, R. Mayol, and J. Parellada, Phys. Rev. A 36(2), 467 (1987).
  37. Q. Lin, J. Zheng, and W. Becker, Phys. Rev. Lett. 97, 253902 (2006).

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML

Copyright (c) 2024 Российская академия наук

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».