Structural features of poly(p-xylylene)−cadmium sulphide nanocomposite films

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

The structure and chemical composition of nanocomposite films based on poly(p-xylylene) with cadmium sulphide (CdS) as a filler were studied by X-ray diffraction and IR-spectroscopy. The films were synthesized by co-deposition of p-xylylene monomer and CdS vapors on quartz and silicon substrates, had a thickness of ~0.2 and ~1.5 µm and contained 5–90 vol. % of CdS. The effect of filler content and film thickness on polymer matrix and filler structure was demonstrated. Differences in the chemical compositions of films with thicknesses of ~0.2 and ~1.5 µm were revealed, caused by their partial oxidation upon contact with air after synthesis. The possible influence of hydroxyl groups on the formation of CdS crystalline structures in films was discussed. A correlation was established between structural transformations upon changes in the CdS content with the previously obtained dependences of dark conductivity and photoconductivity for films with a thickness of ~0.2 μm.

全文:

受限制的访问

作者简介

O. Ivanova

Emanuel Institute of Biochemical Physics RAS

编辑信件的主要联系方式.
Email: olga@deom.chph.ras.ru
俄罗斯联邦, 119334, Moscow

A. Krivandin

Emanuel Institute of Biochemical Physics RAS

Email: olga@deom.chph.ras.ru
俄罗斯联邦, 119334, Moscow

A. Piryazev

Institute of Problems of Chemical Physics RAS

Email: olga@deom.chph.ras.ru
俄罗斯联邦, 142334, Chernogolovka

S. Zav’yalov

National Research Center Kurchatov Institute

Email: olga@deom.chph.ras.ru
俄罗斯联邦, 123182, Moscow

参考

  1. Трахтенберг Л.И., Герасимов Г.Н., Григорьев Е.И. // Журн. физ. химии. 1999. Т. 73. № 2. C. 264.
  2. Григорьев Е.И., Завьялов С.А., Чвалун С.Н. // Российские нанотехнологии. 2006. Т. 1. № 1–2. С. 58.
  3. Гусев А.В., Маилян К.А., Пебалк А.В., Рыжиков И.А., Чвалун С.Н. // Радиотехника и электроника. 2009. Т. 54. № 7. C. 875.
  4. Синтез, строение и свойства металл/полупроводник содержащих наноструктурированных композитов // Ред. Трахтенберг Л.И., Мельников М.Я. М.: Техносфера, 2016. С. 175.
  5. Wang Y., Herron N. // Phys. Rev. B. 1990. V. 42. № 11. P. 7253.
  6. Wang Y., Herron N. // J. Phys. Chem. 1991. V. 95. P. 525.
  7. Ремпель А.А. // Изв. Акад. наук. Сер. хим. 2013. Т. 4. С. 857.
  8. Ворох А.С., Ремпель А.А. // ДАН. 2007. Т. 413. № 6. C. 743.
  9. Ворох А.С., Кожевникова Н.С., Ремпель А.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2008. Т. 72. № 10. С. 1472.
  10. Кожевникова Н.С., Ворох А.С., Урицкая А.А. // Успехи химии. 2015. Т. 84. № 3. C. 225.
  11. Junkermeier C.E., Lewis J.P., Bryant G.W. // Phys. Rev. B. 2009. V. 79. № 12. P. 125323.
  12. Иванова О.П., Криничная Е.П., Завьялов С.А., Журавлева Т.С. // Российские нанотехнологии. 2017. Т. 12. № 11–12. С. 46.
  13. Иванова О.П., Кривандин А.В., Криничная Е.П., Пирязев А.А., Завьялов С.А., Журавлева Т.С. // Российские нанотехнологии 2020. Т. 15. № 6. С. 787.
  14. Иванова О.П., Кривандин А.В., Завьялов С.А., Журавлева Т.С. // Изв. Акад. наук. Сер. хим. 2021. № 9. С. 1699.
  15. Иванова О.П., Криничная Е.П., Морозов П.В., Завьялов С.А., Журавлева Т.С. // Российские нанотехнологии. 2019. Т. 14. № 1–2. С. 10.
  16. Завьялов С.А., Григорьев Е.И., Пивкина А.Н. // Журн. физической химии. 2006. Т. 80. № 3. С. 560.
  17. Завьялов С.А., Схоунман Й., Пивкина А.Н., Гайнутдинов Р.В. // Химическая физика. 2007. Т. 26. № 4. С. 81.
  18. Мисуркин И.А., Титов С.В., Журавлева Т.С. и др. // Журн. физ. химии. 2009. Т. 83. № 3. С. 534.
  19. Журавлева Т.С., Иванова О.П., Криничная Е.П. и др. // Хим. физика. 2011. Т. 30. № 8. C. 75.
  20. Krivandin A.V., Solov’eva A.B., Glagolev N.N., Shatalova O.V., Kotova S.L. // Polymer. 2003. V. 44. P. 5789.
  21. Holder C.F., Schaak R.E. // ACS Nano. 2019. V. 13. P. 7359.
  22. Gazicki M., Surendran G., James W., Yasuda H. // J. Polym. Sci. A. 1986. V. 24. P. 215.
  23. Streltsov D.R., Mailyan K.A., Gusev A.V. et al. // Appl. Phys. A. 2013. V. 110. P. 413.
  24. Streltsov D.R., Mailyan K.A., Gusev A.V et al. // Polymer. 2015. V. 71. P. 60.
  25. Князева А.А., Озерин С.А., Григорьев Е.И., Чвалун С.Н., Завьялов С.А., Кардаш И.Е. // Высокомолек. соединения. Сер. Б. 2005. Т. 47. № 7. C. 1225.
  26. Kuznetsova Yu.V., Rempel A.A., Meyer M., Pipich V., Gerth S., Magerl A. // J. Cryst. Growth. 2016. V. 447. P. 13.
  27. Penn R.L., Banfield J.F. // Science. 1998. V. 281. № 5379. P. 969.
  28. Lee E.J.H., Ribeiro C., Longo E., Leite E. R. // J. Phys. Chem. B. 2005. V. 109. № 44. P. 20842.
  29. Zhang. J., Huang F., Lin Z. // Nanoscale. 2010. V. 2. № 1. P. 18.
  30. Чмутин И.А., Летягин С.В., Шевченко В.Г., Пономаренко А.Т. // Высокомолек. соединения. 1994. Т. 36. № 4. С. 699.
  31. Кожевникова Н.С., Демин А.М., Краснов В.П., Ремпель А.А. // ДАН. 2013. Т. 452. № 1. С. 47.
  32. Ремпель А.А., Валеева А.А. // Изв. Акад. наук. Сер. хим. 2019. № 12. С. 2163.

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
下载
2. Fig. 1. Diffraction patterns of CdS films: with a wurtzite-type structure (1); X-ray amorphous (2); with a SPU structure (3). Experimental intensity 2 is increased threefold. Diffraction patterns 1, 2 are shifted upward along the ordinate axis.

下载 (84KB)
索引源数据
3. Fig. 2. Diffraction patterns of PPX films: amorphous-crystalline (1); X-ray amorphous (2). Diffraction pattern 1 is shifted upward along the ordinate axis.

下载 (75KB)
索引源数据
4. Fig. 3. Diffraction patterns of PPX–CdS nanocomposite films with a thickness of ~1.5 μm, obtained on a synchrotron diffractometer (left) and on a laboratory diffractometer with a coordinate detector (right), CdS filler content: a – 5; b – 10; c – 20; g – 30; d – 40; f – 50; g – 60; h – 70; i – 80; j – 90 vol.%.

下载 (434KB)
索引源数据
5. Fig. 4. Diffraction patterns of PPX–CdS nanocomposite films with a thickness of ~0.2 μm, obtained on a laboratory diffractometer with a coordinate detector (a–g) and a photo method using an X-ray camera with point collimation of the X-ray beam (d), CdS filler content: a – 8; b – 10.5; c – 11; d – 13.5; d – 10.5 vol.%.

下载 (304KB)
索引源数据
6. Fig. 5. IR spectra of PPX–CdS nanocomposite films with a thickness of ~1.5 μm and a CdS filler concentration of: 1 − 0; 2 − 5; 3 − 10; 4 − 30; 5 − 50; 6 − 60; 7 – 70 vol.%.

下载 (134KB)
索引源数据
7. Fig. 6. IR spectra of PPX–CdS nanocomposite films with a thickness of ~0.2 μm and a CdS filler concentration of: 1 − 0; 2 − 8; 3 − 10; 4 − 10.5%.

下载 (137KB)
索引源数据

版权所有 © Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».