Определение энергии активации дефектов в сегнетоэлектриках методом температурной активации–релаксации диэлектрической проницаемости

В статье предложен метод температурной активации–релаксации диэлектрической проницаемости для определения энергии активации дефектов в сегнетоэлектриках на примере образцов цирконата–титаната свинца Pb(Zr,Ti)O₃. Этот метод базируется на анализе релаксации диэлектрической проницаемости после отжига и анализе температурной активации диэлектрической проницаемости сегнетоэлектрика Pb(Zr,Ti)O₃. Установлено равенство энергии активации, соответствующей процессу миграции кислородных вакансий, и тепловой энергии распада доменной структуры, что было подтверждено исследованиями поверхности образцов методом растровой электронной микроскопии. При достижении этой температуры происходил отрыв поверхности доменных стенок от кислородных вакансий, являющихся центрами закрепления (пиннинга). Это проявлялось на морфологии образцов в изменении упорядочения доменов, выходящих на поверхность образца, что приводило к необратимому уменьшению диэлектрической его проницаемости. Для полученных энергий активации установлен физический процесс активации движения доменных стенок, что определяется их закреплением на дефектах структуры (кислородных вакансиях). Предположительно, необратимый распад доменной структуры происходит при смещениях доменных стенок на расстояния, превышающие параметр элементарной решетки сегнетоэлектрика. Предложенный метод может быть частью комплексного исследования, который включает применение электрофизических, рентгеноструктурных методов, измерения методами микроскопии, а также определение дефектной структуры сегнетоэлектрического материала.