Application of Empirical Si–O–C Potential to Simulate Amorphous Atomic Structures and Transition Layers by the Bond Switching Method


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The parameters of REBO2 empirical potential for the Si–O–C system are presented. The results of the calculations using this potential agree well with the experimental values of the lengths and angles of unit cells, bond energy, and surface energy for Si, SiO2, and SiC. The algorithm of bond switching in a multicomponent system has been developed and tested. A method is proposed to simulate the structure of the transition layer between crystalline Si and amorphous SiO2, as well as between crystalline SiC and amorphous SiO2.

Об авторах

I. Belov

National Research Centre “Kurchatov Institute”

Автор, ответственный за переписку.
Email: ivanbelov1977@gmail.com
Россия, pl. Akademika Kurchatova 1, Moscow, 123182

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).