Informaçao sobre o Autor
Nussupov, K. Kh.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 59, Nº 5 (2017) | Surface Physics, Thin Films | X-ray reflectometry and simulation of the parameters of SiC epitaxial films on Si(111), grown by the atomic substitution method | |
| Volume 61, Nº 12 (2019) | Surface Physics and Thin Films | Low-Temperature Synthesis of α-SiC Nanocrystals |