English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Беттің Тақырыбы
Physics of the Solid State
ISSN 1063-7834 (Print) ISSN 1090-6460 (Online)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Барлық журналдар
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Domain Wall Epitaxial Layer Ferrite Hall Coefficient Magnetization Reversal Manganite Phonon Spectrum Raman Spectrum electrical conductivity epitaxy graphite ionic conductivity microstructure phase transition phase transitions silicon silicon carbide single crystals superconductivity thermal expansion thin films
×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Domain Wall Epitaxial Layer Ferrite Hall Coefficient Magnetization Reversal Manganite Phonon Spectrum Raman Spectrum electrical conductivity epitaxy graphite ionic conductivity microstructure phase transition phase transitions silicon silicon carbide single crystals superconductivity thermal expansion thin films
Бастапқы > Іздеу > Автор туралы ақпарат

Автор туралы ақпарат

Biryukov, S. V.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 60, № 1 (2018) Ferroelectricity Specific features of the ferroelectric state in two-layer barium strontium titanate-based heterostructures
Том 60, № 9 (2018) Ferroelectricity The Field Effect in a Metal–Ferroelectric–Semiconductor System of Multilayer Ferroelectric Films with Various Structure Types
Том 61, № 2 (2019) Ferroelectricity Structural and Electric Characteristics of Two-Layer Bi4Ti3O12/(Ba,Sr)TiO3 Thin Films Deposited on a Silicon Substrate by Radio-Frequency Sputtering at Increased Oxygen Pressures
 

JOURNALS

Journals list

Search articles

LEGAL INFORMATION

Privacy Policy

User agreement

 

RCSI CONTATCS

phone: +7 (499) 941-01-15

address: Leninsky Prospekt 32a
Moscow, 119334

E-mail: info@rcsi.science

Technical support

E-mail: journals_support@rcsi.science 

PLATFORM POWERED BY

RUSSIAN CENTRE
FOR SCIENTIFIC INFORMATION

TOP