Electrostatic Friction Force on an AFM Probe Moving Near a Sample Surface


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Within the framework of nonrelativistic electrodynamics, general formulas have been obtained for the tangential dissipative force of electrostatic friction and the normal attraction force of an axially symmetric probe moving parallel to a smooth surface of homogeneous substrates or substrates coated with thin films upon various combinations of materials. As a numerical example, the interaction of a metal sphere moving above a metal surface has been studied. The calculation results are compared with the available experimental and theoretical results of other authors.

Авторлар туралы

G. Dedkov

Kabardino-Balkarian State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: gv_dedkov@mail.ru
Ресей, Nalchik, 360004

A. Kanametov

Kabardino-Balkarian State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: kanametov_a@mail.ru
Ресей, Nalchik, 360004

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018