Optical, Mechanical, and Thermal Properties of Free-Standing MoSi2Nx and ZrSi2Ny Nanocomposite Films


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The optical, mechanical, and thermal properties of free-standing structures based on nitrided molybdenum and zirconium silicides have been studied. It has been shown that silicide nitriding considerably improves the thermal stability of films. While as-prepared amorphous MoSi2 and ZrSi2 films crystallize in the interval 330–370°C, nitriding of films has made it possible to increase their working temperatures in vacuum to 600–700°C (at least, for x ≥ 0.25, y ≥ 1.3). Tensile tests have shown that the ultimate strength of MoSi2Nx films (0 ≤ x ≤ 0.55) depends on nitrogen content only slightly. Comparison between the properties of MoSi2Nx and ZrSi2Ny films magnetron-sputtered at the same partial pressure of nitrogen has demonstrated that with transmission coefficients of films at a wavelength of 13.5 nm being close to each other, ZrSi2 films are more effective as protection coatings (they are less prone to oxidation and more degradation-resistant).

Об авторах

S. Zuev

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences

Email: tsybin@ipmras.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 693950

A. Lopatin

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences

Email: tsybin@ipmras.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 693950

V. Luchin

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences

Email: tsybin@ipmras.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 693950

N. Salashchenko

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences

Email: tsybin@ipmras.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 693950

D. Tatarskiy

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences

Email: tsybin@ipmras.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 693950

N. Tsybin

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences

Автор, ответственный за переписку.
Email: tsybin@ipmras.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 693950

N. Chkhalo

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences

Email: tsybin@ipmras.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 693950

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).