Reducibility of PbO in Lead Silicate Glasses


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

X-ray diffraction data and X-ray fluorescence analysis data for microchannel plates are presented. From X-ray diffraction patterns, one can estimate the amount of reduced lead in microchannel plates and make sure of the presence of both metallic lead and semiconducting PbOx with a variable oxygen content.

Авторлар туралы

A. Eremina

Physicotechnical Department

Email: ramazan62442@gmail.com
Ресей, Vladikavkaz, 362025

O. Archegova

Physicotechnical Department

Email: ramazan62442@gmail.com
Ресей, Vladikavkaz, 362025

R. Esenov

Physicotechnical Department

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: ramazan62442@gmail.com
Ресей, Vladikavkaz, 362025

A. Nakusov

Physicotechnical Department

Email: ramazan62442@gmail.com
Ресей, Vladikavkaz, 362025

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018