Local Oscillations of Silicon–Silicon Bonds in Silicon Nitride


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Raman spectra of films of nearly stoichiometric amorphous silicon nitride (a-Si3N4) reveal a contribution due to local oscillations of silicon–silicon (Si–Si) bonds. This observation directly confirms that the almost stoichiometric a-Si3N4 contains Si–Si bonds, which, according to theoretical predictions, act as electron and hole traps that are responsible for the memory effect in Si3N4.

Об авторах

V. Volodin

Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University

Автор, ответственный за переписку.
Email: volodin@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

V. Gritsenko

Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University; Novosibirsk State Technical University

Email: volodin@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

A. Chin

National Chao Tung University

Email: volodin@isp.nsc.ru
Тайвань, Hsinchu, Taiwan

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).