Rentgenograficheskie metody issledovaniyakristallicheskikh struktur pri nerazreshayushchikhsyadifraktsionnykh mul'tipletakh


Cite item

Full Text

Abstract

Описаны алгоритмы реализации методов разделения, основанных на анализе формы
профилей суммарных отражений, к которым относятся методы выделения отдельных линий,
определения полуширины, интегральной или относительной интенсивности синглетов
и межсинглетных расстояний. Анализ возможности применения трансформант Фурье
при разделении мультиплетов показал, что, практически, область применения этих
методов, исключая методы Ритвельда и аппроксимаций, ограничена разделением дублетов-
Рассмотрен метод центроидов, использующий зависимость положений центров
тяжести мультиплетов от относительной интенсивности синглетов и параметров
элементарных ячеек фаз, участвуюищх в отражении. Показано, что данный метод,
обладая высокой разрешаюищй способностью, позволяет проводить прецизионное
спреде.гение размеров элементарных ячеек исследуемых фаз и при отсутствии в их
дифракционных спектрах синглетных отражений.

About the authors

S P Tkachev

References

  1. Евграфов А. А., Левин В. А., Липницкая И. М. О разделении К-дублета методом Фурье коррекции//АМРА. Л.: Машиностроение, 1983. Вып. 28. С. 53-60.
  2. Крылов В. Д., Гуркова С. И., Балабан И. Е. Гармонический анализ профилей интенсивностей рентгеновских интерференции и выделение компонент дублета//Кристаллография. 1972. Т. 17. С. 264-268.
  3. Gangulee А. Separation of the сс;-а, Doublet in .v-rav Diffraction Profiles//J. Aopl. Cryst. 1970. V. 3. P. 272-277.
  4. Kidron A., De Angelis R. J. Direct Evaluation of KJX Fourier Coefficients in x-raу Profile Analysis//Acta Cryst. 1971. A 27. P. 596-599.
  5. Ткачев С. П., Ткачева Г. И. Возможности гармонического анализа при разделении неразрешающихся дифракционных дублетов//Кристаллография. 1984. Т. 29. С. 16-20.
  6. Каган А. С. Уникель А. П. О рентгеновском анализе частично распавшегося мартенсита//Ваводская лаборатория. 1978. №3. С. 293-296.
  7. Горелик С. С, Расторгуев Л. Н., Скаков Ю. А. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. Ж.: Металлургия, 1970. 368 с.
  8. Ткачев С. П. Графоаналитическое разделение мультиплетных рентгеновских линий// Библиографический указатель ВИНИТИ «Депонированные рукописи». 1977. №2091 - 77 Деп.
  9. Ткачез С. П. Метод аппроксимационного разделения дифракционных ЛД-дублетов// Зав. лаб. 1988. h%2. С. 58-60.
  10. Ткачев С. П. Применение метода аппроксимаций в исследовании хмартенситыых структур//АМРА. Л.: Машиностроение, 1989. Вып. 39. С. 65-72.
  11. Rachinger W. А. Correction for a i a ^ Doublet in the Measurement of Width of x-ray Difraction Lines//J. Sci. Instrum. 1948. V. 25. P. 254-255.
  12. Anantharatnan T. G., Christian I. W. The measurement of x-ray line breadths//British Journal of Applied Physics. 1953. V. 4. P. 155-156.
  13. Papoulis A. Method of Correction for the aia-i Doublet in the x-ray Diffraction Lines// The Review of Scientific Instruments, 1955. V.26. №5. P. 423-426.
  14. Keating D. T. Elimination of the aia^ Dvublet in x-ray Patterns//The Review of Scientific Instruments. 1959. V. 30. №8. P. 725-727.
  15. Young R. Л. Using the Rietvelr method//School of Physics. Georgria Institute of Technology Atlanta. G A 30332. СРВ Publication 122. 1992. P 75.
  16. Ткачев С. П. Рентгенографическое исследование структуры мартенсита при незначительном содержании углерода//Библиографический указатель ВИНИТИ «Депонированные рукописи». 1977. №2092 - 77 Деп.
  17. Ткачев С. П. Рентгенографический метод исследования кристаллических структур при неразрешающихся дифракционных мультиплетах//Кристаллография. 1982. Т. 27. Вып. 4. С. 664-667.
  18. Ткачев С. П., Ткачева Г. И. Рентгенографическое исследование тетрагональных мартенситных структур с неразрешенными дифракционными дублетами (случай однофазного мартенсита)// Зав. лаб. 1987. № 3. С. 33-35.
  19. Ткачев С. П. Рентгенографический метод исследования тетрагональных мартенситных структур//АМРА. Л.: Машиностроение, 1988. Вып. 38. С. 84-90.
  20. Хейкер Д. М., Зевин Л. С. Рентгеновская дифрактометрия. М.: Наука, 1963. 380 с.
  21. Евграфов А. А., Левин В. А., Липницкая И. М. О подходе к задаче разделения /(о-дублета//АМРА. Л.: Машиностроение, 1984. Вып. 32. С. 41-50.
  22. Либерман Б. Д., Пановко В. М., Шелест А. Е. Об учете дублетного размытия рентгеновских лучей при анализе структуры кристаллов//Зав. лаб. 1980. 46. № 2. С. 141 - 142.
  23. Delhez R., Mittemeijer Е. I. An Analysis of Errors in the Fourier Coefficients of the a, Line Profile//J. Appl. Cryst. 1975. V. 8. P. 612-614.
  24. Ladell I., Zagofscy A.. Peariman S. Cu /С-.., Elimination AIgorithm//J. Appl. Crvst. 1975. V.8. P. 499-506.
  25. Mignot I., Rondot D. Application du Lissage de Raies de Diffraction des Rayons x a la Separation du Doublet , K. fiJ. Appl. Cryst. 1976. V. 9. P. 460-465.
  26. Тихонов A. H., Арсенин В. A. Методы решения некорректных задач. М.: Наука,. 1979. 285 с.
  27. Мудрое В. И., Кушко В. Л. Методы обработки измерений. М.: Сов. оадио, 1976. 192 с.
  28. Куколь В. В. Определение положения максимума /(«гкомпонента дублета по профилю уширенной дублетной дифракционной линии//3ав. лао. 1965. Т. 31. №6. С. 706-708.
  29. Мороз И. А., Бурковская Л. Л., Иноземцев О. И. Аналитическое представление компонент рентгеновских интерференционных линий//3ав. лаб. 1981. Т. 47. № 10. С. 19-21
  30. Фильчакоз П. Ф. Численные и графические методы прикладной математики. Киев: Наукова думка, 1975 800 с.
  31. Серебренников М. Г. Гармонический анализ. М.-Л.: Гостехиздат, 1948. 504 с.
  32. Вишняков Я. Д. Современные методы исследования структуры деформированных кристаллов. М.: Металлургия, 1975. 479 с.
  33. Штремель М. А., Капуткина Л. М. Определение компонент мультиплетной линии// Кристаллография. 1970. Т. 15. Вып. 3. С. 443-451.
  34. Белозеров В. В., Тананко И. А., Махатилова А. И. Определение содержания углерода в мартенсите закаленной и отпущенной стали//3ав. лаб. 1980. Т. 46. №10. С. 909-911.
  35. Бекренев А. Н., Терминасов Ю. С. Ткачев С. П. К определению степени тетрагональности кристаллической решетки мартенсита//Физика прочности, пластичности металлов и электродинамических явлений в ферритах. Куйбышев, 1976. Вып. 3. С. 6-10.
  36. Ткачев С. П. Разделение тетрагонального дублета рентгеновской дифракционной линии//Физика прочности, пластичности металлов и электродинамические явления ввеществе. Куйбышев, 1977. Вып. 5. С. 106-108.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 1996 Samara State Technical University

Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».