Change in the Charge State of MOS Structures with a Radiation-Induced Charge under High-Field Injection of Electrons - PDF (Russian)


Copyright (c) 2023 Д.В. Андреев, Г.Г. Бондаренко, В.В. Андреев

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).