Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN 1028-0960 (Print)
Меню
Архив
Главная
О журнале
Редакция
Редакционная политика
Правила для авторов
О журнале
Выпуски
Поиск
Текущий выпуск
Ретрагированные статьи
Архив
Контакты
Все журналы
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Инструменты статьи
Распечатать статью
Посмотреть метаданные
Цитировать
Отправить статью по E-mail
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Ключевые слова
атомно-силовая микроскопия
компьютерное моделирование
кремний
магнетронное распыление
метод Монте-Карло
микроструктура
модификация поверхности
морфология поверхности
наночастицы
нейтронная рефлектометрия
облучение
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
рентгенофазовый анализ
синхротронное излучение
структура
тонкие пленки
фазовый состав
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
По автору
по заглавиям
другие журналы
Метрики
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Текущий выпуск
№ 1 (2025)
×
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Инструменты статьи
Распечатать статью
Посмотреть метаданные
Цитировать
Отправить статью по E-mail
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Ключевые слова
атомно-силовая микроскопия
компьютерное моделирование
кремний
магнетронное распыление
метод Монте-Карло
микроструктура
модификация поверхности
морфология поверхности
наночастицы
нейтронная рефлектометрия
облучение
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
рентгенофазовый анализ
синхротронное излучение
структура
тонкие пленки
фазовый состав
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
По автору
по заглавиям
другие журналы
Метрики
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Текущий выпуск
№ 1 (2025)
Главная
>
Архив
>
№ 7 (2023)
>
Предисловие
>
PDF
Предисловие - PDF (Русский)
Загрузить этот файл PDF
© Российская академия наук, 2023