Мақаланы E-mail арқылы жіберу Single Fault Diagnostic Tests for Inversion Faults of Circuit Elements Over Some Bases
- Авторлар: Lyubich I.G.1, Romanov D.S.1
-
Мекемелер:
- Lomonosov Moscow State University
- Шығарылым: Том 30, № 1 (2019)
- Беттер: 36-47
- Бөлім: Article
- URL: https://journal-vniispk.ru/1046-283X/article/view/247823
- DOI: https://doi.org/10.1007/s10598-019-09432-3
- ID: 247823
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
The article shows that, in a number of bases, every Boolean function can be realized by an irredundant combinational circuit that admits a single fault diagnostic test of length not greater than 4 with respect to inversion faults on the element outputs.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
I. Lyubich
Lomonosov Moscow State University
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: lubi4ig@gmail.com
Ресей, Moscow
D. Romanov
Lomonosov Moscow State University
Email: lubi4ig@gmail.com
Ресей, Moscow
Қосымша файлдар
