Мақаланы E-mail арқылы жіберу Benchmarking the Reliability of the Consignments of Semiconductor Articles Using Electrostatic Discharges
- Авторлар: Gorlov M.I.1, Strogonov A.V.1, Vinokurov A.A.1
-
Мекемелер:
- Voronezh State Technical University
- Шығарылым: Том 54, № 6 (2018)
- Беттер: 455-461
- Бөлім: Electrical Methods
- URL: https://journal-vniispk.ru/1061-8309/article/view/181719
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1061830918060025
- ID: 181719
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
Five methods that have been developed by the authors since 2006 for benchmarking the reliability of semiconductor articles using electrostatic discharges are described.
Авторлар туралы
M. Gorlov
Voronezh State Technical University
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: m-gorlov@inbox.ru
Ресей, Voronezh, 394026
A. Strogonov
Voronezh State Technical University
Email: m-gorlov@inbox.ru
Ресей, Voronezh, 394026
A. Vinokurov
Voronezh State Technical University
Email: m-gorlov@inbox.ru
Ресей, Voronezh, 394026
Қосымша файлдар
