Автор туралы ақпарат

Marchenko, D.E.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 52, № 16 (2018) 26th INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOSTRUCTURES: PHYSICS AND TECHNOLOGY”. NANOSTRUCTURE CHARACTERIZATION Сomposition Depth Profiling of the GaAs Native Oxide Irradiated by an Ar+ Ion Beam