English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Беттің Тақырыбы
Semiconductors
ISSN 1063-7826 (Print) ISSN 1090-6479 (Online)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Барлық журналдар
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер GaAs GaAs Substrate GaN Gallium Nitride Sapphire Substrate Versus Characteristic annealing carbon nanotubes doping exciton graphene heterostructure heterostructures luminescence molecular-beam epitaxy photoconductivity photoluminescence quantum dots quantum well silicon thin films
×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер GaAs GaAs Substrate GaN Gallium Nitride Sapphire Substrate Versus Characteristic annealing carbon nanotubes doping exciton graphene heterostructure heterostructures luminescence molecular-beam epitaxy photoconductivity photoluminescence quantum dots quantum well silicon thin films
Бастапқы > Іздеу > Автор туралы ақпарат

Автор туралы ақпарат

Stepikhova, M. V.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 50, № 3 (2016) Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena Epitaxially Grown Monoisotopic Si, Ge, and Si1–xGex Alloy Layers: Production and Some Properties
Том 50, № 8 (2016) Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures On a silicon-based photonic-crystal cavity for the near-IR region: Numerical simulation and formation technology
Том 50, № 9 (2016) Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures Conditions of growth of high-quality relaxed Si1–xGex layers with a high Ge content by the vapor-phase decomposition of monogermane on a sublimating Si hot wire
Том 51, № 3 (2017) Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena Multilayer photosensitive structures based on porous silicon and rare-earth-element compounds: Study of spectral characteristics
Том 52, № 9 (2018) Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena Study of the Structural and Emission Properties of Ge(Si) Quantum Dots Ordered on the Si(001) Surface
Том 53, № 10 (2019) Xxiii International Symposium “Nanophysics and Nanoelectronics”, Nizhny Novgorod, March 11–14, 2019 Ordered Arrays of Ge(Si) Quantum Dots Incorporated into Two-Dimensional Photonic Crystals
 

JOURNALS

Journals list

Search articles

LEGAL INFORMATION

Privacy Policy

User agreement

 

RCSI CONTATCS

phone: +7 (499) 941-01-15

address: Leninsky Prospekt 32a
Moscow, 119334

E-mail: info@rcsi.science

Technical support

E-mail: journals_support@rcsi.science 

PLATFORM POWERED BY

RUSSIAN CENTRE
FOR SCIENTIFIC INFORMATION

TOP