Автор туралы ақпарат
Rykhlitsky, S. V.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 53, № 1 (2019) | Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures | Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe |