Informaçao sobre o Autor
Rykhlitsky, S. V.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 53, Nº 1 (2019) | Fabrication, Treatment, and Testing of Materials and Structures | Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe |