Informaçao sobre o Autor
Kan, V. E.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 51, Nº 1 (2017) | Microcrystalline, Nanocrystalline, Porous, and Composite Semiconductors | Formation and properties of the buried isolating silicon-dioxide layer in double-layer “porous silicon-on-insulator” structures |