Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Том 50, № 2 (2016)
Study of the surface of GaAs after etching in high-frequency and glow discharge plasma by atomic force microscopy
Dunaev A., Murin D., Pivovarenok S.
PDF
(Eng)
Том 50, № 5 (2016)
Stimulated emission from a metamorphic GaAsSb bulk layer on a GaAs substrate
Aleshkin V., Dubinov A., Kudryavtsev K., Yunin P., Drozdov M., Vikhrova O., Nekorkin S., Zvonkov B.
PDF
(Eng)
Том 52, № 9 (2018)
Effect of Conditions of Electrochemical Etching on the Morphological, Structural, and Optical Properties of Porous Gallium Arsenide
Seredin P., Lenshin A., Fedyukin A., Goloshchapov D., Lukin A., Arsentyev I., Zhabotinsky A.
PDF
(Eng)
Том 50, № 4 (2016)
Features of the diagnostics of metamorphic InAlAs/InGaAs/InAlAs nanoheterostructures by high-resolution X-ray diffraction in the ω-scanning mode
Vasil’evskii I., Pushkarev S., Grekhov M., Vinichenko A., Lavrukhin D., Kolentsova O.
PDF
(Eng)
Том 50, № 2 (2016)
Structural and photoluminescence properties of low-temperature GaAs grown on GaAs(100) and GaAs(111)A substrates
Galiev G., Klimov E., Grekhov M., Pushkarev S., Lavrukhin D., Maltsev P.
PDF
(Eng)
Том 53, № 12 (2019)
GaAs-Based Laser Diode with InGaAs Waveguide Quantum Wells
Dikareva N., Zvonkov B., Samartsev I., Nekorkin S., Baidus N., Dubinov A.
PDF
(Eng)
Том 52, № 12 (2018)
Electrical Properties of GaAs Nanowires Grown on Graphene/SiC Hybrid Substrates
Alekseev P., Dunaevskiy M., Mikhailov A., Lebedev S., Lebedev A., Ilkiv I., Khrebtov A., Bouravleuv A., Cirlin G.
PDF
(Eng)
Том 50, № 5 (2016)
Multilayer heterostructures for quantum-cascade lasers operating in the terahertz frequency range
Zhukov A., Cirlin G., Reznik R., Samsonenko Y., Khrebtov A., Kaliteevski M., Ivanov K., Kryzhanovskaya N., Maximov M., Alferov Z.
PDF
(Eng)
Том 50, № 4 (2016)
Dependence of mobility on the electron concentration upon scattering at polar optical phonons in AIII–N nitrides
Borisenko S.
PDF
(Eng)
Том 53, № 11 (2019)
On the Phase Composition, Morphology, and Optical and Electronic Characteristics of AlN Nanofilms Grown on Misoriented GaAs(100) Substrates
Seredin P., Fedyukin A., Terekhov V., Barkov K., Arsentyev I., Bondarev A., Fomin E., Pikhtin N.
PDF
(Eng)
Том 52, № 12 (2018)
Photodetectors with an InGaAs Active Region and InGaP Metamorphic Buffer Layer Grown on GaAs Substrates
Samartsev I., Nekorkin S., Zvonkov B., Aleshkin V., Dubinov A., Pashenkin I., Dikareva N., Chigineva A.
PDF
(Eng)
Том 50, № 5 (2016)
GaAs/InGaAsN heterostructures for multi-junction solar cells
Nikitina E., Gudovskikh A., Lazarenko A., Pirogov E., Sobolev M., Zelentsov K., Morozov I., Egorov A.
PDF
(Eng)
Том 50, № 3 (2016)
Microdisk Injection Lasers for the 1.27-μm Spectral Range
Kryzhanovskaya N., Maximov M., Blokhin S., Bobrov M., Kulagina M., Troshkov S., Zadiranov Y., Lipovskii A., Moiseev E., Kudashova Y., Livshits D., Ustinov V., Zhukov A.
PDF
(Eng)
Том 53, № 10 (2019)
Molecular-Dynamics Simulation of the Low-Temperature Surface Reconstruction of a GaAs(001) Surface during the Nanoindentation Process
Prasolov N., Gutkin A., Brunkov P.
PDF
(Eng)
Том 52, № 12 (2018)
On the Application of Strain-Compensating GaAsP Layers for the Growth of InGaAs/GaAs Quantum-Well Laser Heterostructures Emitting at Wavelengths above 1100 nm on Artificial Ge/Si Substrates
Baidus N., Yunin P., Shaleev M., Reunov D., Rykov A., Novikov A., Nekorkin S., Kudryavtsev K., Krasilnik Z., Dubinov A., Aleshkin V., Yurasov D.
PDF
(Eng)
Том 50, № 5 (2016)
Optical properties of metamorphic GaAs/InAlGaAs/InGaAs heterostructures with InAs/InGaAs quantum wells, emitting light in the 1250–1400-nm spectral range
Egorov A., Karachinsky L., Novikov I., Babichev A., Nevedomskiy V., Bugrov V.
PDF
(Eng)
Том 50, № 3 (2016)
Study of the Electron Distribution in GaN and GaAs after γ-Neutron Irradiation
Tarasova E., Khananova A., Obolensky S., Zemlyakov V., Sveshnikov Y., Egorkin V., Ivanov V., Medvedev G., Smotrin D.
PDF
(Eng)
Том 53, № 16 (2019)
Initial Stages of Planar GaAs Nanowire Growth—Monte Carlo Simulation
Spirina A., Neizvestny I., Shwartz N.
PDF
(Eng)
Том 53, № 10 (2019)
Vertical Field-Effect Transistor with a Controlling GaAs-Based p–n Junction
Vostokov N., Daniltsev V., Kraev S., Krukov V., Skorokhodov E., Strelchenko S., Shashkin V.
PDF
(Eng)
Том 52, № 10 (2018)
Effect of Epitaxial-Structure Design and Growth Parameters on the Characteristics of Metamorphic Lasers of the 1.46-μm Optical Range Based on Quantum Dots Grown on GaAs Substrates
Maximov M., Nadtochiy A., Shernyakov Y., Payusov A., Vasil’ev A., Ustinov V., Serin A., Gordeev N., Zhukov A.
PDF
(Eng)
Том 50, № 2 (2016)
Laser-assisted simulation of transient radiation effects in heterostructure components based on AIIIBV semiconductor compounds
Gromov D., Maltsev P., Polevich S.
PDF
(Eng)
Том 53, № 16 (2019)
The Study of Nanoindentation of Atomically Flat GaAs Surface using the Tip of Atomic-Force Microscope
Prasolov N., Ermakov I., Gutkin A., Solov’ev V., Dorogin L., Konnikov S., Brunkov P.
PDF
(Eng)
Том 53, № 9 (2019)
Studies of the Cross Section and Photoluminescence of a GaAs Layer Grown on a Si/Al2O3 Substrate
Sushkov A., Pavlov D., Shengurov V., Denisov S., Chalkov V., Baidus N., Rykov A., Kryukov R.
PDF
(Eng)
Том 50, № 2 (2016)
GaAs structures with a gate dielectric based on aluminum-oxide layers
Kalentyeva I., Vikhrova O., Zdoroveyshchev A., Danilov Y., Kudrin A.
PDF
(Eng)
Том 53, № 16 (2019)
Widening the Length Distributions in Irregular Arrays of Self-Catalyzed III–V Nanowires
Berdnikov Y., Sibirev N., Koryakin A.
PDF
(Eng)
1 - 25 из 38 результатов 1 2 > >> 
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».