Physics of the Solid State
ISSN 1063-7834 (Print)
ISSN 1090-6460 (Online)
Мәзір
Мұрағат
Бастапқы
Журнал туралы
Редакция тобы
Редакция саясаты
Авторларға арналған ережелер
Журнал туралы
Шығарылымдар
Іздеу
Ағымдағы шығарылым
Ретракцияланған мақалалар
Мұрағат
Байланыс
Барлық журналдар
Анықтамалық материалдар
Платформаны пайдалану бойынша нұсқаулық
RAS журналдарына арналған келісімге қол қою бойынша нұсқаулық
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
Автор бойынша
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
Domain Wall
Epitaxial Layer
Ferrite
Hall Coefficient
Magnetization Reversal
Manganite
Phonon Spectrum
Raman Spectrum
electrical conductivity
epitaxy
graphite
ionic conductivity
microstructure
phase transition
phase transitions
silicon
silicon carbide
single crystals
superconductivity
thermal expansion
thin films
×
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
Автор бойынша
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
Domain Wall
Epitaxial Layer
Ferrite
Hall Coefficient
Magnetization Reversal
Manganite
Phonon Spectrum
Raman Spectrum
electrical conductivity
epitaxy
graphite
ionic conductivity
microstructure
phase transition
phase transitions
silicon
silicon carbide
single crystals
superconductivity
thermal expansion
thin films
Бастапқы
>
Іздеу
>
Автор туралы ақпарат
Автор туралы ақпарат
Solnyshkin, A. V.
Шығарылым
Бөлім
Атауы
Файл
Том 58, № 5 (2016)
Ferroelectricity
Pyroelectric and piezoelectric responses of thin AlN films epitaxy-grown on a SiC/Si substrate
Том 60, № 4 (2018)
Ferroelectricity
Electrical Conductivity and Barrier Properties of Lithium Niobate Thin Films
Том 61, № 12 (2019)
Ferroelectricity
Influence of Orientation of a Silicon Substrate with a Buffer Silicon Carbide Layer on Dielectric and Polar Properties of Aluminum Nitride Films
TOP