English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Беттің Тақырыбы
Physics of the Solid State
ISSN 1063-7834 (Print) ISSN 1090-6460 (Online)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Барлық журналдар
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Domain Wall Epitaxial Layer Ferrite Hall Coefficient Magnetization Reversal Manganite Phonon Spectrum Raman Spectrum electrical conductivity epitaxy graphite ionic conductivity microstructure phase transition phase transitions silicon silicon carbide single crystals superconductivity thermal expansion thin films
×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Domain Wall Epitaxial Layer Ferrite Hall Coefficient Magnetization Reversal Manganite Phonon Spectrum Raman Spectrum electrical conductivity epitaxy graphite ionic conductivity microstructure phase transition phase transitions silicon silicon carbide single crystals superconductivity thermal expansion thin films
Бастапқы > Іздеу > Автор туралы ақпарат

Автор туралы ақпарат

Domashevskaya, E. P.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 58, № 5 (2016) Low-Dimensional Systems Interatomic interactions at interfaces of multilayered nanostructures (Co45Fe45Zr10/a-Si)40 and (Co45Fe45Zr10/SiO2)32
Том 58, № 12 (2016) Metals Ab initio calculation and synchrotron X-ray spectroscopy investigations of tin oxides near the Sn L3 absorption edges
Том 59, № 1 (2017) Low-Dimensional Systems Electronic structure and phase composition of dielectric interlayers in multilayer amorphous nanostructure [(CoFeB)60C40/SiO2]200
Том 59, № 2 (2017) Low-Dimensional Systems Specific features of the atomic structure of metallic layers of multilayered (CoFeZr/SiO2)32 and (CoFeZr/a-Si)40 nanostructures with different interlayers
Том 59, № 4 (2017) Surface Physics and Thin Films Composition of nanocomposites of thin tin layers on porous silicon, formed by magnetron sputtering
Том 60, № 5 (2018) Surface Physics and Thin Films Phase Formation and Electronic Structure Peculiarities in the Al1 – xSix Film Composites under the Conditions of Magnetron and Ion-Beam Sputtering
Том 61, № 2 (2019) Metals The Influence of Relative Content of a Metal Component in a Dielectric Matrix on the Formation and Dimensions of Cobalt Nanocrystallites in Cox(MgF2)100 – x Film Composites
 

JOURNALS

Journals list

Search articles

LEGAL INFORMATION

Privacy Policy

User agreement

 

RCSI CONTATCS

phone: +7 (499) 941-01-15

address: Leninsky Prospekt 32a
Moscow, 119334

E-mail: info@rcsi.science

Technical support

E-mail: journals_support@rcsi.science 

PLATFORM POWERED BY

RUSSIAN CENTRE
FOR SCIENTIFIC INFORMATION

TOP