English
Kazakh
Português (Brasil)
Русский
简体中文
Беттің Тақырыбы
Physics of the Solid State
ISSN 1063-7834 (Print) ISSN 1090-6460 (Online)
Мәзір     Мұрағат
  • Бастапқы
  • Журнал туралы
    • Редакция тобы
    • Редакция саясаты
    • Авторларға арналған ережелер
    • Журнал туралы
  • Шығарылымдар
    • Іздеу
    • Ағымдағы шығарылым
    • Ретракцияланған мақалалар
    • Мұрағат
  • Байланыс
  • Барлық журналдар
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Domain Wall Epitaxial Layer Ferrite Hall Coefficient Magnetization Reversal Manganite Phonon Spectrum Raman Spectrum electrical conductivity epitaxy graphite ionic conductivity microstructure phase transition phase transitions silicon silicon carbide single crystals superconductivity thermal expansion thin films
×
Пайдаланушы
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба? Тіркеу
Хабарламалар
  • Қарау
  • Тіркелу
Іздеу
Парақтау
  • шығарылымдар
  • Автор бойынша
  • атаулары бойынша
  • бөлімдер бойынша
  • басқа журналдар
Жазылу Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер Domain Wall Epitaxial Layer Ferrite Hall Coefficient Magnetization Reversal Manganite Phonon Spectrum Raman Spectrum electrical conductivity epitaxy graphite ionic conductivity microstructure phase transition phase transitions silicon silicon carbide single crystals superconductivity thermal expansion thin films
Бастапқы > Іздеу > Автор туралы ақпарат

Автор туралы ақпарат

Mittsev, M. A.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 58, № 9 (2016) Surface Physics and Thin Films Influence of “ytterbium nanofilm–silicon Si(111)” interfaces on the valence of ytterbium
Том 58, № 10 (2016) Surface Physics and Thin Films Mechanism of the Yb2+ → Yb3+ valence transition in ytterbium nanofilms upon chemisorption of CO and O2 molecules on their surface
Том 59, № 8 (2017) Surface Physics and Thin Films Transfilm passivation of a silicon–ytterbium nanofilms interface with chemisorbed CO and O2 molecules
Том 59, № 10 (2017) Surface Physics, Thin Films Valence transition investigation in the O2–Yb–Si(111) system by means of the angle-resolved photoelectron spectroscopy method
Том 60, № 7 (2018) Surface Physics and Thin Films Electrostatic Nature of Size Dependences of Adsorption Properties of Ytterbium Nanofilms Grown on the Surface of Silicon: the CO–Yb–Si(111) System
 

JOURNALS

Journals list

Search articles

LEGAL INFORMATION

Privacy Policy

User agreement

 

RCSI CONTATCS

phone: +7 (499) 941-01-15

address: Leninsky Prospekt 32a
Moscow, 119334

E-mail: info@rcsi.science

Technical support

E-mail: journals_support@rcsi.science 

PLATFORM POWERED BY

RUSSIAN CENTRE
FOR SCIENTIFIC INFORMATION

TOP