Мақаланы E-mail арқылы жіберу Quality Control of ZnGeP2 Single Crystals Using Optical Methods
- Авторлар: Dyomin V.V.1, Polovtsev I.G.1, Kamenev D.V.1
-
Мекемелер:
- National Research Tomsk State University
- Шығарылым: Том 58, № 10 (2016)
- Беттер: 1479-1481
- Бөлім: Article
- URL: https://journal-vniispk.ru/1064-8887/article/view/236795
- DOI: https://doi.org/10.1007/s11182-016-0672-4
- ID: 236795
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
A method for detection of subsurface defects in ZnGeP2crystals is proposed. Evaluation of this method is performed and experimental results are presented.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
V. Dyomin
National Research Tomsk State University
Email: kamenev87@mail.ru
Ресей, Tomsk
I. Polovtsev
National Research Tomsk State University
Email: kamenev87@mail.ru
Ресей, Tomsk
D. Kamenev
National Research Tomsk State University
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: kamenev87@mail.ru
Ресей, Tomsk
Қосымша файлдар
