On a defect identification method based on monitoring the structure and peculiarities of surface wave fields


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A special technique is proposed for processing detected signals. The technique uses an adjustable orthonormal basis and makes it possible to effectively identify defects by monitoring the structure and peculiarities of surface wave fields.

Авторлар туралы

O. Bocharova

Southern Scientific Center of the Russian Academy of Sciences

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: olga.v.bocharova@gmail.com
Ресей, Rostov-on-Don, 344006

A. Sedov

Southern Scientific Center of the Russian Academy of Sciences

Email: olga.v.bocharova@gmail.com
Ресей, Rostov-on-Don, 344006

I. Andzhikovich

Southern Scientific Center of the Russian Academy of Sciences

Email: olga.v.bocharova@gmail.com
Ресей, Rostov-on-Don, 344006

V. Kalinchuk

Southern Scientific Center of the Russian Academy of Sciences

Email: olga.v.bocharova@gmail.com
Ресей, Rostov-on-Don, 344006

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016