On the ohmicity of Schottky contacts


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The conditions under which Schottky contacts become ohmic are analyzed. Proceeding from classical concepts of the mechanisms of current flow, a generalized Schottky contact model is investigated. This model takes into account the thermionic current of majority charge carriers and the recombination current of minority carriers in Schottky contacts with a dielectric gap. Based on an analysis of the predictions of this model, ohmicity criteria are obtained for Schottky contacts and the conditions for a low injection level and the ohmicity of Si-based Schottky contacts are compared. It is shown that the conditions for Schottky-contact ohmicity do not coincide with those for pn junctions.

Об авторах

A. Sachenko

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Автор, ответственный за переписку.
Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

A. Belyaev

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

R. Konakova

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).