Local thermoelectric effects in wide-gap semiconductors

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Experimental confirmation of the appearance of local thermal electromotive forces, which were previously found in structures based on silicon p–n junctions, is obtained. The current–voltage and frequency characteristics of an asymmetric potential barrier at the GaN/Mg boundary and of a p–i–n structure based on GaAs are studied. It is shown that, similarly to wide-gap semiconductors, the contribution of local thermal electromotive forces determines the features of the current–voltage characteristics and the frequency features of the current–power characteristics, in particular the Gaussian resonance. Proper account and use of local thermoelectric forces makes it possible to attain a drastic increase in the efficiency of thermoelectric conversion and an improvement in the operating parameters of microelectronic components.

Об авторах

S. Ordin

Ioffe Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: stas_ordin@mail.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

Yu. Zhilyaev

Ioffe Institute

Email: stas_ordin@mail.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

V. Zelenin

Ioffe Institute

Email: stas_ordin@mail.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

V. Panteleev

Ioffe Institute

Email: stas_ordin@mail.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).