Spectra of SmS Films in the Far- and Mid-Infrared Regions

Yu. V. Ulashkevich; V. V. Kaminski; S. M. Soloviev; N. V. Sharenkova

doi:10.1134/S1063782619110216

Spectra of SmS Films in the Far- and Mid-Infrared Regions

Авторы: Ulashkevich Y.V.¹, Kaminski V.V.¹, Soloviev S.M.¹, Sharenkova N.V.¹
Учреждения:
1. Ioffe Institute
Выпуск: Том 53, № 11 (2019)
Страницы: 1511-1513
Раздел: Amorphous, Vitreous, and Organic Semiconductors
URL: https://journal-vniispk.ru/1063-7826/article/view/207308
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619110216
ID: 207308

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

The basic features of the band structure observed in bulk samples are retained in polycrystalline SmS thin films. Specifically, the bottom of the conduction band is formed from s-type states and there exist donor impurity levels in the band gap, at an energy of 0.04–0.065 eV below the bottom of the conduction band.