Semiconductors
ISSN 1063-7826 (Print)
ISSN 1090-6479 (Online)
Мәзір
Мұрағат
Бастапқы
Журнал туралы
Редакция тобы
Редакция саясаты
Авторларға арналған ережелер
Журнал туралы
Шығарылымдар
Іздеу
Ағымдағы шығарылым
Ретракцияланған мақалалар
Мұрағат
Байланыс
Барлық журналдар
Анықтамалық материалдар
Платформаны пайдалану бойынша нұсқаулық
RAS журналдарына арналған келісімге қол қою бойынша нұсқаулық
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
Автор бойынша
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
GaAs
GaAs Substrate
GaN
Gallium Nitride
Sapphire Substrate
Versus Characteristic
annealing
carbon nanotubes
doping
exciton
graphene
heterostructure
heterostructures
luminescence
molecular-beam epitaxy
photoconductivity
photoluminescence
quantum dots
quantum well
silicon
thin films
×
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
Автор бойынша
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
GaAs
GaAs Substrate
GaN
Gallium Nitride
Sapphire Substrate
Versus Characteristic
annealing
carbon nanotubes
doping
exciton
graphene
heterostructure
heterostructures
luminescence
molecular-beam epitaxy
photoconductivity
photoluminescence
quantum dots
quantum well
silicon
thin films
Бастапқы
>
Іздеу
>
Автор туралы ақпарат
Автор туралы ақпарат
Shek, E. I.
Шығарылым
Бөлім
Атауы
Файл
Том 50, № 2 (2016)
Physics of Semiconductor Devices
Si:Si LEDs with room-temperature dislocation-related luminescence
Том 50, № 2 (2016)
Physics of Semiconductor Devices
Effect of the fabrication conditions of SiGe LEDs on their luminescence and electrical properties
Том 50, № 2 (2016)
Physics of Semiconductor Devices
Electroluminescence properties of LEDs based on electron-irradiated
p
-Si
Том 51, № 9 (2017)
Electronic Properties of Semiconductors
Influence of measurement temperature on the luminescence properties of (113) defects in oxygen-implanted silicon
Том 53, № 2 (2019)
Electronic Properties of Semiconductors
Influence of Annealing Temperature on Electrically Active Centers in Silicon Implanted with Germanium Ions
Том 53, № 2 (2019)
Spectroscopy, Interaction with Radiation
Dislocation-Related Photoluminescence in Silicon Implanted with Germanium Ions
Том 53, № 4 (2019)
Nonelectronic Properties of Semiconductors (Atomic Structure, Diffusion)
Defect Formation under Nitrogen-Ion Implantation and Subsequent Annealing in GaAs Structures with an Uncovered Surface and a Surface Covered with an AlN Film
TOP