Автор туралы ақпарат
Erich, M.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 53, № 8 (2019) | Nonelectronic Properties of Semiconductors (Atomic Structure, Diffusion) | Influence of the Charge State of Xenon Ions on the Depth Distribution Profile Upon Implantation into Silicon |