GaN Selective Epitaxy in Sub-Micron Windows with Different Depths Formed by Ion Beam Nanolithography


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

A significant difference in the growth mechanism of spatially closed structures of gallium nitride during selective growth in submicron windows with and without penetration into the GaN sublayer was demonstrated. The mechanisms of generation and development of dislocations, their role in the formation of self-organizing coaxial structures were modeled.

Об авторах

S. Rodin

Ioffe Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

W. Lundin

Ioffe Institute

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

A. Tsatsulnikov

Research and Engineering Center on Submicron Heterostructures for Microelectronics,
Russian Academy of Sciences

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

A. Sakharov

Ioffe Institute

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

S. Usov

Research and Engineering Center on Submicron Heterostructures for Microelectronics,
Russian Academy of Sciences

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

M. Mitrofanov

Ioffe Institute

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

I. Levitskii

Ioffe Institute

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

V. Evtikhiev

Ioffe Institute

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

M. Kaliteevski

ITMO University

Email: s_rodin77@mail.ru
Россия, St. Petersburg

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).