Analysis of reliability of semiconductor emitters with different designs of cavities

A. V. Ivanov; V. D. Kurnosov; K. V. Kurnosov; Yu. V. Kurnyavko; A. V. Lobintsov; A. S. Meshkov; V. N. Penkin; V. I. Romantsevich; M. B. Uspenskii; R. V. Chernov

doi:10.1134/S1063784216100157

Analysis of reliability of semiconductor emitters with different designs of cavities

Авторлар: Ivanov A.V.¹, Kurnosov V.D.¹, Kurnosov K.V.¹, Kurnyavko Y.V.¹, Lobintsov A.V.¹, Meshkov A.S.¹, Penkin V.N.¹, Romantsevich V.I.¹, Uspenskii M.B.¹, Chernov R.V.¹
Мекемелер:
1. Stelmakh Polyus Research Institute
Шығарылым: Том 61, № 10 (2016)
Беттер: 1525-1530
Бөлім: Solid State Electronics
URL: https://journal-vniispk.ru/1063-7842/article/view/198241
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784216100157
ID: 198241

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат
Рұқсат жабық

Рұқсат берілді
Рұқсат жабық

Тек жазылушылар үшін

Аннотация
Авторлар туралы
Әдебиет тізімі
Қосымша файлдар
Статистика

Аннотация

We have reported on the results of analysis of the operating time of conventional laser diodes and diodes with noninjecting output sections. The reasons for shorter operating time of diodes with a single anti-reflection face of the cavity compared to diodes with two protecting coatings and emitters equipped with a fiber Bragg grating have been considered.