Calibration of X-Ray Diffraction Instruments for Residual-Stress Measurement
- Авторы: Trofimov V.N.1, Karmanov V.V.1, Shiryaev A.A.1, Zvonov S.N.2
-
Учреждения:
- Perm State Polytechnic University
- OOO Xena
- Выпуск: Том 39, № 3 (2019)
- Страницы: 276-278
- Раздел: Article
- URL: https://journal-vniispk.ru/1068-798X/article/view/227680
- DOI: https://doi.org/10.3103/S1068798X19030225
- ID: 227680
Цитировать
Аннотация
The deficiencies of existing standard iron and nickel samples for calibration by means of X-ray diffraction are noted. These standards cannot be used in calibration by magnetic noise recording. A new calibration method based on X-ray diffraction is proposed, using plane samples of the material employed in the manufacture of the actual structures. Theoretical analysis provides the basis for the development of null standards in which a plane sample is deformed by pure flexure or in a cantilever-beam configuration.
Об авторах
V. Trofimov
Perm State Polytechnic University
Автор, ответственный за переписку.
Email: tvn_perm@mail.ru
Россия, Perm, 614990
V. Karmanov
Perm State Polytechnic University
Автор, ответственный за переписку.
Email: karmanovs@yandex.ru
Россия, Perm, 614990
A. Shiryaev
Perm State Polytechnic University
Автор, ответственный за переписку.
Email: alex_sh_23-1@mail.ru
Россия, Perm, 614990
S. Zvonov
OOO Xena
Автор, ответственный за переписку.
Email: info@kcena.ru
Россия, Perm, 614000
Дополнительные файлы
