Surface Physics and Thin Films

Выпуск Название Файл
Том 61, № 12 (2019) Low-Temperature Synthesis of α-SiC Nanocrystals PDF
(Eng)
Nussupov K., Beisenkhanov N., Bakranova D., Keinbai S., Turakhun A., Sultan A.
Том 61, № 12 (2019) Ion-Beam and X-Ray Methods of Elemental Diagnostics of Thin Film Coatings PDF
(Eng)
Egorov V., Egorov E., Afanas’ev M.
Том 61, № 12 (2019) Nanosized Potential Fluctuations in SiOx Synthesized by Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition PDF
(Eng)
Perevalov T., Volodin V., Novikov Y., Kamaev G., Gritsenko V., Prosvirin I.
Том 61, № 12 (2019) Layer Crystallization in PZT/LNO/Si Heterostructures PDF
(Eng)
Atanova A., Zhigalina O., Khmelenin D., Seregin D., Vorotilov K.
Том 61, № 12 (2019) Impurity Effects on Nucleation and Growth of SiC Clusters and Layers on Si(100) and Si(111) PDF
(Eng)
Pezoldt J., Lubov M., Kharlamov V.
Том 61, № 9 (2019) Conductivity of Manganite Films under the Action of Tension Caused by the Deformation of Substrate PDF
(Eng)
Ovsyannikov G., Shaikhulov T., Shakhunov V., Klimov A., Preobrazhenskii V., Tiercelin N., Pernod P.
Том 61, № 9 (2019) Magnetic and Resonant Properties of Fe–Bi Films PDF
(Eng)
Furdyk V., Patrin G., Yakovchuk V., Yarikov S., Shiyan Y.
Том 61, № 9 (2019) Microwave Impedance of Thin-Film Superconductor–Normal Metal Hybrid Structures with a High Conductivity Ratio PDF
(Eng)
Ustavshchikov S., Aladyshkin A., Kurin V., Markelov V., El’kina A., Klushin A., Yunin P., Rogov V., Vodolazov D.
Том 61, № 8 (2019) Electron-Stimulated Desorption of Cesium Atoms from Graphene to Iridium Intercalated and not Intercalated with Cesium PDF
(Eng)
Kuznetsov Y., Lapushkin M., Rut’kov E., Gall’ N.
Том 61, № 8 (2019) Formation of Ordered Silicon Structures on a Graphite Surface PDF
(Eng)
Reveguk A., Petukhov A., Vishnyakova A., Koroleva A., Pudikov D., Zhizhin E.
Том 61, № 8 (2019) On the Adsorption of Gases on Silicon Carbide: Simple Estimates PDF
(Eng)
Davydov S., Posrednik O.
Том 61, № 7 (2019) Localization of the Wannier–Mott Exciton on a Langmuir-Film/CdS Organic Semiconductor Interface PDF
(Eng)
Korolkova K., Novak V., Sel’kin A.
Том 61, № 7 (2019) Magnetic Anisotropy of Graphene-Coated Thin Iron Films PDF
(Eng)
Dunaevskii S., Lobanova E., Mikhailenko E., Pronin I.
Том 61, № 7 (2019) Cobalt Intercalation of Graphene on Silicon Carbide PDF
(Eng)
Grebenyuk G., Lobanova E., Smirnov D., Eliseev I., Zubov A., Smirnov A., Lebedev S., Davydov V., Lebedev A., Pronin I.
Том 61, № 7 (2019) Effects of the Laser Irradiation on Graphene Oxide Foils in Vacuum and Air PDF
(Eng)
Torrisi L., Cutroneo M., Silipigni L., Fazio M., Torrisi A.
Том 61, № 6 (2019) Effect of a Second-Order Phase Transition on the Electrical Conductivity of the Cr–Polymer–Cu Structure PDF
(Eng)
Nabiullin I., Gadiev R., Lachinov A.
Том 61, № 3 (2019) Effect of Oxygen on the Conductive Properties of Thin Films of Nonconductive Polymer PDF
(Eng)
Yusupov A., Lachinov A., Kalimullina L., Gadiev R., Nikitina D.
Том 61, № 3 (2019) Two-Stage Conversion of Silicon to Nanostructured Carbon by the Method of Coordinated Atomic Substitution PDF
(Eng)
Kukushkin S., Osipov A., Feoktistov N.
Том 61, № 3 (2019) Dielectric Parameters of Elastically Strained Heteroepitaxial SrTiO3 Films PDF
(Eng)
Boikov Y., Danilov V.
Том 61, № 2 (2019) Synthesis, Structure, and Dielectric Characteristics of Sr0.61Ba0.39Nb2O6 Single Crystals and Thin Films PDF
(Eng)
Pavlenko A., Ivleva L., Stryukov D., Kovtun A., Anokhin A., Lykov P.
Том 60, № 12 (2018) Structural and Thermoelectric Properties of Optically Transparent Thin Films Based on Single-Walled Carbon Nanotubes PDF
(Eng)
Tambasov I., Voronin A., Evsevskaya N., Volochaev M., Fadeev Y., Krylov A., Aleksandrovskii A., Luk’yanenko A., Abelyan S., Tambasova E.
Том 60, № 11 (2018) Detectors of Circularly Polarized Radiation Based on Semiconductor Heterostructures with a CoPt Schottky Barrier PDF
(Eng)
Kudrin A., Zdoroveyshchev A., Vikhrova O., Dorokhin M., Kalent’eva I., Demina P.
Том 60, № 10 (2018) Atomic and Electronic Structure of 3C-SiC(111)-(\(2\sqrt 3 \times 2\sqrt 3 \) )-R30° Surface PDF
(Eng)
Bekenev V., Zubkova S.
Том 60, № 10 (2018) Initial Stages of Growth of Barium Zirconate Titanate and Barium Stannate Titanate Films on Single-Crystal Sapphire and Silicon Carbide PDF
(Eng)
Tumarkin A., Zlygostov M., Serenkov I., Sakharov V., Afrosimov V., Odinets A.
Том 60, № 7 (2018) Structural Phase Transformations in Al/Pt Bilayer Thin Films during the Solid-State Reaction PDF
(Eng)
Altunin R., Moiseenko E., Zharkov S.
1 - 25 из 81 результатов 1 2 3 4 > >> 

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».