Calibration of X-Ray Diffraction Instruments for Residual-Stress Measurement


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The deficiencies of existing standard iron and nickel samples for calibration by means of X-ray diffraction are noted. These standards cannot be used in calibration by magnetic noise recording. A new calibration method based on X-ray diffraction is proposed, using plane samples of the material employed in the manufacture of the actual structures. Theoretical analysis provides the basis for the development of null standards in which a plane sample is deformed by pure flexure or in a cantilever-beam configuration.

Авторлар туралы

V. Trofimov

Perm State Polytechnic University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: tvn_perm@mail.ru
Ресей, Perm, 614990

V. Karmanov

Perm State Polytechnic University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: karmanovs@yandex.ru
Ресей, Perm, 614990

A. Shiryaev

Perm State Polytechnic University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: alex_sh_23-1@mail.ru
Ресей, Perm, 614990

S. Zvonov

OOO Xena

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: info@kcena.ru
Ресей, Perm, 614000

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2019